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9.1 I/O接口扩展概述 9.1.1 扩展的I/O接口功能 9.1.2 I/O端口的编址 9.1.3 I/O数据的传送方式 9.1.4 I/O接口电路 9.2 AT89S52扩展I/O接口芯片82C55的设计 9.2.1 82C55芯片简介 9.2.2 工作方式选择控制字及端口PC置位/复位控制字 9.2.3 82C55的3种工作方式 9.2.4 单片机扩展82C55的接口设计 9.2.5 AT89S52扩展82C55的应用举例 9.3 利用74LSTTL电路扩展并行I/O口 9.4 用AT89S52单片机的串行口扩展并行口 9.4.1 用74LS165扩展并行输入口 9.4.2 用74LS164扩展并行输出口 9.5 用I/O口控制的声音报警接口 9.5.1 蜂鸣音报警接口 9.5.2 音乐报警接口
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4.1 并发控制概述 4.2 封锁 4.3 活锁和死锁 4.4 并发调度的可串行性
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提出一种以燃料消耗量最小为优化目标的加热炉生产调度新方法。首先基于热力学第一定律分析了流入及流出加热炉的各项能量,并对燃料消耗量的计算式进行了理论推导。进而根据加热炉区实际生产调度特点归纳各约束条件,以多台加热炉总燃料消耗量最小为优化目标,构建调度优化数学模型。采用自适应差分进化算法搭配禁忌搜索算法进行综合求解,并通过9组实际钢坯生产案例模拟验证了该算法的可行性和有效性。同时,为了探究加热炉燃料消耗量的影响因素,提出了分别衡量加热炉区缓冲等待、炉内加热两部分时间同理想生产时间匹配程度的评价参数μ1和μ2,并分析了燃料消耗量对二者的敏感性,结果表明:当连铸坯到达加热炉节奏与热轧工序出坯节奏之比由0.5增至2时,燃料消耗量对两评价参数的敏感性逐渐减弱
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– 使用指令级并行的基础问题 – 提取并行的数据相关性分析 – 代码调度的基本概念 – 基本块调度的技术、发现通用程序中的高度数据相关控制流的方法、调度数值程序的软件流水线技术 – 在多处理器系统上,使用数组的计算密集型程序的并行化和数据局部性优化的概念和方法
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利用光学显微镜(OM)、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、能谱分析(EDS) 并结合热力学及动力学计算结果对采用真空感应熔炼和电渣重熔二联工艺生产的GH5605合金电渣锭的枝晶形貌、元素偏析和析出相进行分析.探索了合金的高温扩散退火制度并结合差示扫描量热仪(DSC) 和热压缩模拟实验分析高温扩散退火前后的合金特征.结果表明: GH5605合金中的枝晶和元素偏析情况较轻, 主要偏析元素是Cr和W并在枝晶间处偏聚, 电渣锭中的主要析出相包括奥氏体、晶界M23C6以及晶内和晶界处的奥氏体与M23C6板条状共晶相.经1210℃/8 h扩散退火处理后枝晶和元素偏析基本消除, 共晶相基本回溶
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空气环境对高温合金在高温下的损伤行为有显著影响.为了研究标准热处理态GH4169合金在高温疲劳裂纹扩展过程中的微观损伤机制,在空气环境中进行650℃、初始应力强度因子幅ΔK=30 MPa·m1/2和应力比R=0.05的低周疲劳裂纹扩展试验.使用扫描电镜(SEM)及能谱(EDS)对试样的断口、外表面和剖面进行观察和分析.实验结果表明:疲劳主裂纹以沿晶方式萌生并扩展,随后沿晶二次裂纹出现,并且其数量和长度沿主裂纹方向逐渐增加,进入快速扩展阶段后,断口呈现韧窝组织形貌;在裂纹扩展过程中,δ相与基体的界面发生氧化,使得沿晶二次裂纹沿界面扩展并产生偏折,从而起到阻碍二次裂纹扩展的作用;试样外表面的主裂纹周围出现晶界氧化损伤区,其尺寸和晶界开裂程度沿主裂纹扩展方向逐渐增大
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《果树栽培学实验指导》紧密结合《果树栽培学》理论教学内容,并根据农学类专业的课程体系和知识结构编写。可作为实验课教师用书,也可作为学生实验教材。主要内容包括。主要果树树种、品种识别;果树树体结构和枝芽特性的观察;果树生长结果习性的观察;果树种子生活力的测定与层积处理;果树的芽接;果树的枝接;葡萄扦插育苗;果树实生育苗;果树的花果管理;梨果实品质鉴定;苹果果实鉴定;葡萄果实品质鉴定;果树整形修剪;苹果冬季修剪方法与修剪反应统计。通过本课程的学习对于学生了解并掌握果树栽培学生产实践管理的基本方法以及培养学生独立进行科研工作的能力将起到很大的作用,并为今后拓展本学科的学习和研究奠定基础
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8.1 扩展并行三总线 8.2 扩展简单并行输入/输出口 8.3 扩展并行数据存储器 8.3.1 扩展存储器概述 8.3.2 数据存储器的扩展 8.4 串行扩展总线接口技术
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基于电子背散射衍射(EBSD)技术,利用极射赤面投影图,提出了一种不依赖于残余奥氏体,对协变相变产物的原奥取向进行重构的简易方法.计算结果表明,利用铁素体的{110}α极图中三个贝恩组的交点可以成功重构出原始奥氏体取向,并且精度可达2°;同时,该方法还可以对局部微区或者变体选择很严重的原奥取向进行重构,误差仍可控制在2°之内,具有其他重构方法无可比拟的优点.位向关系具体种类并不影响对原奥取向的重构,采用该方法进行原奥取向重构时不需要预先知道具体的位向关系,并且适用于位向关系处在K-S与N-W关系之间的所有协变相变过程.通过运用该方法重构原奥取向,本文研究了高温奥氏体化过程中的奥氏体行为.研究发现当采用较高的温度奥氏体化时会出现奥氏体孪晶,奥氏体孪晶的出现与奥氏体化温度有关
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◼ 6.1 并行接口的概念 ◼ 6.2并行接口控制芯片8255A ◼ 6.3 数字量并行接口的应用 ◼ 6.4 数字量串行接口及芯片8251A ◼ 6.5 光电隔离输入输出接口
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