第1章数字电子技术基础 第2章组合逻辑电路 第3章时序逻辑电路 第4章脉冲信号的产生与整形 第5章数模和模数转换

第一节中央银行概述 中央银行的产生和发展 (一)产生的客观经济基础 1、银行券的发行问题 从18世纪后半期到19世纪前半期,资本主义银行业得到了 广泛建立。最初,几乎每家银行都拥有银行券发行权,市场上流 通的银行券五花八门。如果每家银行都能保证自己发行的银行券 能够随时兑现,也就不会出现什么问题但是,在银行业的激烈 竞争中,总会有一些银行国经营不善而不能保证兑现,某些银行则有 意设在遥远的地区,使人们难以向其兑现这些问题导致信用纠纷、 银行破产甚至整个金融业的危机

第一节 概述 第二节 测频回路 第三节 人工死区及PID调节 第四节 永态转差系数电路 第五节 综合放大及振动信号电路 第七节 网频测量与频率跟踪 第八节 开停机电压回路

一、建筑工程测量概述 二、施工测量的基本工作回 三、建筑施工控制测量 四、建筑施工测量 五、建筑工程变形测量

一、软件测试及其目标 二、软件测试准则 三、测试方法 四、测试阶段的信息流 五、测试阶段

(1)熟悉价值工程的基本原理; (2)熟悉价值工程对象的选择和信息资料收集; (3)掌握功能分析和功能评价的方法; (4)了解方案创造与评价; (5)了解价值工程的应用

在前面介绍第四章内容时,我们有一个重要的假设前提,即不存在不确定因素,方案 评价时能得到完全信息。但是,未来实际发生的情况与事先的估算、预测很可能有相当大 的出入。为了提高经济评价的准确度和可信度,尽量避免和减少投资决策的失误,有必要 对投资方案做不确定性分析,为投资决策提供客观、科学的依据

如果经检测发现某个硬盘不能完全正常工作,则称这个硬盘是“有缺陷的硬盘”(Defect Hard Disk) 根据维修经验,笔者将硬盘的缺陷分为六大类 ①坏扇区(Bad sector),也称缺陷扇区(Defect sector) ②磁道伺服缺陷(Track Servo defect) ③磁头组件缺陷( Heads assembly defect) ④系统信息错乱(Service information

①首先检查 CMOS SETUP是否丢失了硬盘配置信息。测量主板上 COMS RAM电路是否为电池有故 障,或元器件(如二极管、三极管、电阻、电容等损坏能原因而CMOS中的硬盘配置参数出 错

在进程的控制的基础上这课引入进程同步和进程同 步机制的概念,它对并发执行进程的推进序列加以限 制以保证互斥使用临界资源或协同完成任务,解决程 序并发执行时带来结果不可再现问题。这课介绍了用 软件、硬件、信号量机制、AND型信号量集、一般信 号量集、管程等各种解决进程互斥同步问题的方法