基尔霍夫定律和叠加原理 一、实验目的: 1、验证基尔霍夫定律与叠加原理。 2、熟练掌握电路的连接技术以及电路分支 电压、分支电流的测量方法。 二、实验设备 1.直流稳压电源2.数字万用表 3.模拟电路实验箱

第5章电容式传感器 5.1电容式传感器的工作原理和结构 5.2电容式传感器的灵敏度及非线性 5.3电容式传感器的测量电路 5.4电容式传感器的应用

第3章应变式传感器 3.1工作原理 3.2电阻应变片特性 3.3电阻应变片的测量电路 3.4应变式传感器应用

第五章线性处理器 5.1运放工作在线性区时的特点 5.2信号的运算电路 5.3有源滤波器 5.4电压源、电流源与电压、电流、电阻的测量

双口元件是在微波中应用最多的一种元件,按功能分类如下图所示。与单口元件相似,双口元件一 般采用网络理论进行分析。但是,在这里值得指出: 元件的网络参数本身还是需要用场论方法求得,或者 实际测量得到。从这个意义上讲,场论是问题的内部本质,而网络则是问题的外部特性

第五章误差及分析数据的处理 第一节概述 1、误差客观存在 2、定量分析数据的归纳和取舍(有效数字) 3、计算误差,评估和表达结果的可靠性和精密度 4、了解原因和规律,减小误差,测量结果→真值

第五章线性处理器 5.1运放工作在线性区时的特点 5.2信号的运算电路 5.3有源滤波器 5.4电压源、电流源与电压、电流电阻的测量

实验一、电子技术实验基础知 一、课程概述(内容要求) 二、基础知识(电子元器件) 三、直流仪器(数字万用表) 四、电阻、电容等元器件测量

一、概述 高水平的工艺良品率是生产性能可靠的芯 片并获得收益的关键所在。本章将简单介绍影 响良品率的主要工艺及材料要素,并对良品率 测量点做出阐述。 维持及提高良品率对半导体工业至关重要 ,因为半导体制造工艺的复杂性,以及生产一 个完整封装器件所需要经历的庞大工艺制程, 是导致这种对良品率超乎寻常关注的基本原因 。这两方面的原因使得通常只有20%至80%的芯 片能够完成生产线全过程,成为成品出货

第17章集成运算放大器 171集成运算放大器的简单介绍 17.2运算放大器在信号运算方面的应用 17.3运算放大器在信号处理方面的应用 17.4运算放大器在波形产生方面的应用 17.5运算放大器在信号测量方面的应用 17.6集成功率放大器 17.7运算放大电路中的负反馈 17.8使用运算放大器应注意的几个问题