1.相关测试仪器的熟练使用 2.边沿、脉宽等触发类型的使用 3.触发释抑功能的使用 4.预触发与延迟触发功能的使用 5.脉冲参数的测量 6.获取模式（标准、峰值、平均、高分辨率）的使用 7.触发方式（自动、正常、单次）的使用 8.带宽的测量

系统的抗干扰性能的好坏是影响系统可靠性的重要因 素。 14.1 干扰的来源 影响单片机测控系统正常工作的信号称为噪声，又称 干扰。 影响指令的正常执行，造成控制事故或控制失灵，在 测量通道中产生了干扰，就会使测量产生误差，电 压的冲击有可能使系统遭到致命的破坏。 干扰一般都是以脉冲的形式进入系统的， 窜入单片机系统的渠道主要有三条：

一、概述 二、测量误差 三、测试系统的静态特性 四、测试系统的动态特性 五、测试系统实现精确测量的条件 六、测试系统的负载效应

——直接计量和间接计量法 ——基本计量法和定义计量法 ——直接比较计量和替代计量法 ——微差计量法和符合计量法 ——补偿计量法和调换计量法 ——中介源测试计量法 ——静态计量和动态计量 ——主观计量和客观计量 ——通过被测量的重建进行测量的方法

在光电信息检测的三维图像测量方法部分，设置“基于条纹投影轮廓术的人脸检测方法工程案例”。首先介绍结构光三维检测的系统结构的基本组成，再次，从相位提取和相位展开两个方面对该技术的基本原理进行阐述，最后从技术实现、技术难点方面进行可靠性分析

VC97数字万用表是一种性能稳定、可靠性 高的位万用表，仪表采用23mm字高LED显示器， 读数清晰。可用来测量直流电压、交流电压、直 流电流、交流电流、电阻、电容、频率、占空比、 三极管、二极管及通断测试；同时还设有单位符 号显示、数据保持、相对值测量、自动/手动量程 转换、自动断电及报警功能。其使用方法如下

一．测试线插孔 (1) 此万用表有四个测试线插孔，其中COM为黑表笔插孔。在左边有两个测试电流的红表笔插孔，“10A”和“mA–A”分别用来测量大电流（0~10A）和小电流（0~400mA）。最右边的红表笔插孔用来测量电流以外的其他量

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

一、剔除数据中的“奇异项” 二、去除数据中的电平漂移 三、去除 / 提取趋势项 四、测量数据的平滑滤波

第一篇 单片机设计与控制实验 . 1 实验一 基于单片机的自动换挡电阻测试仪常. 1 实验二 简易数字频率计. 2 实验三 移相器设计. 3 实验四 光电摄像在塞曼效应实验中的应用. 4 实验五 光电门测试在转动惯量实验中的应用. 5 实验六 牛顿环图像处理. 6 第二篇 光信息技术研究创新实验 . 7 实验七 基于光速测量的激光测距研究实验. 7 实验八 晶体电光效应. 10 实验九 声光效应研究实验 . 18 实验十 空间滤波. 32 实验十一 光学图像相减. 38 第三篇 光全息技术研究创新实验 . 43 实验十二 计算全息编码及重现研究实验. 43 实验十三 全息干涉法测量金属材料的杨氏模量. 48 实验十四 数字全息与光学再现实验. 53 实验十五 激光线扫描测量. 71 实验十六 光栅传感三维面性测量实验. 79 实验十六（一） 三维测量系统的标定实验. 79 实验十六（二） 单视场三维测量实验. 84