一、概述 二、薄膜样品的制备 三、衍衬成象原理 四、相位衬度简介

▪概述 ▪电子衍射原理 ▪电子显微镜中的电子衍射 ▪单晶电子衍射花样标定 ▪复杂电子衍射花样

一、引言 二、结因子 三、晶体的衍射度

东南大学：分析测试中心（教学大纲）材料分析技术课程实验（课程实验类）

3.1 温度量的测量 3.2 流体压力测量 3.3 流体流量测量

北京工业大学：《材料工程测试技术》课程教学资源（PPT课件）第五章 温度的调节（含第四章控制仪表、智能仪表）

北京工业大学：《材料工程测试技术》课程教学资源（PPT课件）第四章 显示与记录仪表

2.1 电阻型传感器 2.2 电容式传感器 2.3 电感式传感器 2.4 霍尔式传感器 2.5 光电式传感器 2.6 光纤式传感器

北京工业大学：《材料工程测试技术》课程教学资源（PPT课件）第一章 基础知识（主讲：张继光、李耳）

任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状 态有关。 当外界条件(如温度、压力)以及化学成分、 内应力等发生变化,点阵常数都会随之改变。 这种点阵常数变化是很小的,通常在10-5nm量级。 精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体 含量及分解、晶体热膨胀系数、内应力、晶体 缺陷等诸多问题非常有作用。所以精确测定点 阵常数的工作有时是十分必要的