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任务一 Word 2003入门任务二制作通知任务三表格制作任务四制作简历表格任务五设计电子板报任务六编排论文

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一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准二、SoC测试生成

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《过程设备设计基础》课程教学资源（相关标准文献）HG20652-1998 塔器设计技术规定

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 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

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 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

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《过程设备设计基础》课程教学资源（相关标准文献）设计手册3

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《过程设备设计基础》课程教学资源（相关标准文献）设计手册2

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《工程科学学报》：基于六端网络法的压电超声换能器优化设计

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电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章概述——测试的基本知识