第一篇 基础型实验 .1 实验一 电工仪表的使用与测量误差的计算.1 实验二 电路元件伏安特性的测量.4 实验三 直流电路中电位、电压的关系研究.10 实验四 基尔霍夫定律.12 实验五 叠加定理的验证.15 实验六 戴维南定理和诺顿定理的验证.18 实验七 电压源与电流源的等效变换.23 实验八 受控源特性测试.26 第二篇 综合型实验.31 实验九 RC 一阶电路的动态过程研究实验.31 实验十 二阶动态电路响应的研究.34 实验十一 RLC 元件在正弦电路中的特性实验.36 实验十二 RLC 串联谐振电路的研究.39 实验十三 双口网络测试.42 实验十四 RC 选频网络特性测试.45 实验十五 负阻抗变换器.48 实验十六 回转器.52 第三篇 设计型实验.56 实验十七 万用表设计与制作 .56 附 1 典型电信号的观察与测量.97

16.1 二端口网络 16.2 二端口的方程和参数 16.3 二端口的等效电路 16.4 二端口的转移函数 16.5 二端口的连接 16.6 回转器和负阻抗转换器

基本概念基本概念 简化模型－开关 结构 符号 I/V特性 阈值电压 I-V关系式 跨导 二级效应 体效应、沟道长度调制效应、亚阈值导电性 器件模型 版图、电容、小信号模型等 简化模型－开关 结构 符号 I/V特性 阈值电压 I-V关系式 跨导 二级效应 体效应、沟道长度调制效应、亚阈值导电性 器件模型 版图、电容、小信号模型等

共漏级－源跟随器 共栅级 共源共栅级 折叠共源共栅级 手算时器件模型和公式的选择

2.3.1 CMOS IC中的寄生效应 2.3.2 SOI工艺 2.3.3 CMOS版图设计规则

 2.1.2 MOS结构和分类  2.2.1 N阱CMOS工艺  2.2.2 深亚微米CMOS工艺

第一节 RC正弦波振荡器 一、自激振荡的基本原理 二、 RC串并联选频电路 三、文氏桥式RC振荡器 第二节 LC正弦波振荡器 二、电感三点式振荡器 一、变压器反馈式振荡器 三、电容三点式振荡器 第三节 石英晶体正弦波振荡器 三、串联型晶体振荡器 一、石英晶体的结构和电特性 二、并联型晶体振荡器 第四节 非正弦波振荡器 四、集成函数发生器 一、矩形波发生器 二、三角波发生器 三、锯齿波发生器

第一节 概述 第二节 可编程阵列逻辑器件（PAL） 第三节 通用阵列逻辑GAL器件 第四节 现场可编程门阵列FPGA

一、半导体存储器概念： 随着微电子技术的提高,大规模集成电路(LSI)发展很快,近年来集成电路几乎以每年提高一倍的速度向前发展。存储器是电子计算机及数字系统中不可缺少的部分，用来存放二进制代码表示的数据､系统指令､资料及运算程序等。 二、存储器的主要指标 存储容量 和 工作速度

实验一 常用电子仪器的使用 1 实验二 单级放大电路 6 实验三 射极跟随器 10 实验四 集成运算放大器的应用 13 实验五 门电路逻辑功能及测试 18 实验六 组合逻辑电路 24 实验七 数字电子秒表 27 附 录 常用数字集成电路引脚图 32