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1.1 半导体中的电子状态与载流子 1.1.1 半导体材料的结构与能带形成 1.1.2 半导体中的载流子 1.1.3 半导体中载流子的统计分布 1.2 载流子的传输 1.3 pn结和金属-半导体接触 1.4 金属-绝缘层-半导体(MIS)结构 1.4.1 理想MIS结构及其工作状态 1.4.2 理想MIS结构的空间电荷分布 1.4.3 理想MIS结构的阈值电压 1.4.4 实际MIS 结构 1.4.5 MIS结构的电容-电压特性 1.5 MIS场效应晶体管
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1.半导体的导电特性 (1)掺杂特性。 (2)热敏和光敏特性
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《机械测试技术基础》课程教学资源(作业习题)电子测试技术习题及答案
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一、实验目的 1.熟悉555时基电路逻辑功能的测试方法。 2.熟悉555时基电路的工作原理及其应用
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Review VHDL程序组成部分及其功能
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第1.1节 电路模型 第1.2节 电路变量及参考方向 第1.3节 电路元件 第1.4节 基尔霍夫定律 第1.5节 简单电路求解
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本章主要研究端口电流、电压之间 的关系,即端口的外特性。本章主要解 决的问题是找出表征二端口网络的参数 及由这些参数联系着的端口电流、电压 方程,并在此基础上分析二端口网络的 电路
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§2.1.1 金属电阻应变片 §2.1.2 测量电路 直流电桥, 交流电桥电路 §2.1.3 电阻应变式传感器及应用
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基尔霍夫定律和叠加原理 一、实验目的: 1、验证基尔霍夫定律与叠加原理。 2、熟练掌握电路的连接技术以及电路分支 电压、分支电流的测量方法。 二、实验设备 1.直流稳压电源2.数字万用表 3.模拟电路实验箱
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1.1 电路模型 1.2 电路变量 1.3 欧姆定律 1.4 理想电源 1.5 基尔霍夫定律 1.6 电路等效 1.7 实际电源的模型及其互换 1.8 电阻π、Τ电路互换等效 1.9 受控源 1.10 小结
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