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应用透射电镜(TEM)和X射线能谱(EDX)对CSP工艺含钛耐候钢中的细小磷化物进行了研究.对成品钢板和经900℃压缩20%并等温30min的连铸坯分析结果表明:耐候钢中存在MxP型纳米级磷化物,x值为2~3,金属元素M为Fe、Ti及少量Cr或Ni,磷化物的结构为六方晶系,点阵常数a=0.609nm、c=0.351nm;成品钢板中磷化物尺寸多在20nm以下,而经过900℃压缩的连铸坯试样中磷化物的尺寸、形状不尽相同,较大的棒状磷化物长约300nm、宽约50nm,其他粒子在50nm以下,多呈方形.CSP工艺生产线中可能发生磷化物沉淀的阶段是热连轧的最后两个道次直至冷却到400~500℃的过程中;磷化物的析出可提高沉淀强化效果,但同时会使钢中的固溶磷浓度降低
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铸坯出结晶器后的冷却速度是影响和决定铸坯表层组织结构(0~5 mm)及第2相析出物分布的关键因素.在开发重熔凝固冷却实验装置的基础上,模拟铸坯在垂直段的凝固冷却条件,研究不同冷却速度对铸坯表层组织与第2相析出物分布的影响.研究表明,在0.8 m·min-1拉速下,以5℃.s-1的冷却速度,使铸坯在出结晶器后表面温度下降到A3温度以下,得到的表层组织均匀,晶界无膜状先共析铁素体,微合金元素析出物在晶内分布均匀,有利于提高铸坯热塑性及降低裂纹敏感性
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Number Theory 1. Six proofs of the infinity of primes …… 3. Binomial coefficients are (almost) never powers 4. Representing numbers as sums of two squares …… 8. Some irrational numbers 9. Three times π2/6 Geometry 10. Hilbert’s third problem: decomposing polyhedra63 11. Lines in the plane and decompositions of graphs …… 15. The Borromean rings don’t exist …… 17. Every large point set has an obtuse angle 18. Borsuk’s conjecture Analysis …… 21. The fundamental theorem of algebra …… 25. Cotangent and the Herglotz trick 26. Buffon’s needle problem Combinatorics 27. Pigeon-hole and double counting …… 32. Cayley’s formula for the number of trees 33. Identities versus bijections …… 36. The Dinitz problem247 37. Permanents and the power of entropy253 …… 41. Communicating without errors 42. The chromatic number of Kneser graphs …… 44. Probability makes counting (sometimes) easy
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第一部分 光纤处理、光纤无源器件制作实验前言. 1 实验 1 光纤端面处理及熔接实验. 1 实验 1.1 光纤端面处理及熔接实验仪说明 .1 实验 1.2 实验指南.2 1、涂覆层的剥除.2 2、光纤头的制备.3 3、光纤头质量的检验.3 4、光纤的连接.3 5、光纤熔接质量测试.3 6、光纤端面处理基本操作实验.4 7、光纤耦合技术基本操作实验.4 8、光纤熔接技术基本操作实验.4 9、光功率耗损法对光纤熔接质量测试 .4 实验 2 光纤跳线制作实验. 6 实验 3 熔融拉锥制作光纤分路器实验. 8 第二篇 光纤传感实验. 11 实验 4 光纤传感实验. 11 实验 4(一) 光纤光学基本知识演示 .11 实验 4(二) 光纤与光源耦合方法实验.12 实验 4(三) 多模光纤数值孔径(NA)测量实验.13 实验 4(四) 光纤传输损耗性质及测量实验.14 实验 4(五) M—Z光纤干涉实验 .15 实验 4(六) 光纤压力传感原理实验 .16 实验 4(七) 光纤温度传感原理实验 .17 实验 5 光纤光栅传感实验. 18 4.1 实验目的.18 4.2 实验原理.18 4.3 实验装置.28 4.4 实验步骤.28 4.5 思考题.34
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第1讲 单片机概述 第2讲 初识Cortex-M3 第3讲 开发环境MDK、J-link的搭建及系统调试 第4讲 如何新建工程 第5讲 工程编译及仿真、程序的下载 第6讲 了解stm32库文件 第7、8、9、10讲 流水灯 第11、12、13讲 系统滴答定时器SysTick 第14、15、16讲 EXTI外部中断 第17讲 串口部分 第18、19讲 ADC(DMA模式) 第20讲 常用存储器介绍 第21、22、23讲 I2C—读写EEPROM 第24、25、26、27讲 LCD—液晶显示 第28、29讲 LCD—液晶显示中英文 第30、31讲 电容触摸屏—触摸画板 第32、33、34、35讲 基本定时器 第36、37、38讲 SDIO—SD卡读写测试
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第一部分 移动通信原理与技术 第一章 数字调制与解调技术. 2 实验一 四相移相键控(QPSK)调制及解调实验. 2 实验二 交错四相移相键控(OQPSK)调制及解调实验 . 10 实验三 基带信号预成形技术实验. 18 实验四 MSK 调制及相干解调实验. 23 实验五 GMSK 调制及相干解调实验. 35 实验六 MSK、GMSK 非相干数字解调实验. 44 实验七 矢量调制星座图实验. 51 第二章 同步技术. 55 实验八 PSK 信号载波恢复. 55 实验九 NRZ 码位同步提取实验. 62 第三章 扩展频谱技术. 68 实验十 m 序列产生及其特性实验. 68 实验十一 Gold 序列产生及其特性实验 . 81 实验十二 扩频实验. 87 实验十三 解扩实验. 96 第四章 抗衰落技术. 106 实验十四 卷积码编码及译码实验. 106 实验十五 块交织及解交织实验. 116
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第一章 MATLAB 简介 - 2 第二章 MATLAB 的基本知识 - 8 第三章 MATLAB 的 M 文件设计 - 34 第一章 一元函数微分学 - 61 第二章 一元函数积分学 - 72 第三章 无穷级数 - 76 第四章 多元函数积分学 - 80 第五章 多元函数积分学 - 86 第六章 关于不含参变量反常积分和含参变量反常积分的计算 - 90 第一章 MATHEMATICA 简介 - 94 第二章 MATHEMATICA 的基本量 - 98 第三章 MATHEMATICA 作图 - 103 第一章 一元函数微分学 - 115 第二章 一元函数积分学 - 135 第三章 无穷级数 - 140 第四章 多元函数微分学 - 145 第五章 多元函数积分学 - 149 第一章:一元函数微分学 第一章 Mathematica 简介 第二章 Mathematica 的基本量
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9.1 引言 9.2 模拟信号的抽样 9.2.1 低通模拟信号的抽样定理 9.2.2 带通模拟信号的抽样定理 9.3 模拟脉冲调制 9.4 抽样信号的量化 9.4.1 量化原理 9.4.2 均匀量化  【例9.1】设一个均匀量化器的量化电平数为M,其输入信号 9.4.3 非均匀量化 9.5脉冲编码调制 9.5.1脉冲编码调制(PCM)的基本原理 9.5.2 自然二进制码和折叠二进制码 9.5.3 电话信号的编译码器 9.5.4 PCM系统中噪声的影响 9.6 差分脉冲编码调制(DPCM) 9.6.1 预测编码简介 9.6.2差分脉冲编码调制(DPCM)的原理及性能 9.7 增量调制 9.7.1 增量调制原理 9.7.2 增量调制系统中的量化噪声 9.7.3增量调制系统中的量化噪声 9.8 时分复用和复接 9.8.1 基本概念 9.8.2 准同步数字体系(PDH) E - 4 139.264 1920 4路139.264 Mb/s   E-4层:比特率为139.264 Mb/s。 9.8.3 同步数字体系(SDH) 9.9 小结
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第一章 电力电子实验的基本要求及注意事项 §1-1 电力电子实验的重要性和基本要求 §1-2 电力电子实验安全操作注意事项 第二章 电力电子教学试验 §2-1 实验一 三相桥式全控整流电路实验 §2-2 实验二 三相桥式有源逆变电路实验 §2-3 实验三 三相交流调压电路实验 §2-4 实验四 直流斩波电路实验 §2-5 实验五 双闭环晶闸管不可逆直流调速实验 §2-6 实验六 双闭环三相异步电动机串级调速实验 §2-5 实验七 变频器应用实验 附录 电力电子实验所用设备和仪器 附录 A MCL-Ⅲ 型电力电子及电气传动教学试验台面板介绍和使用说明 附录 B SS-7804 示波器使用说明 附录 C VFD-M 变频器使用说明
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基于第二相Ostwald熟化的相关理论,对5炉成分有细微差别的20CrMnTi渗碳齿轮钢中Ti(C,N)在930℃下的粗化规律进行了计算.结果表明,在930℃渗碳温度下分别保温1、2、4、8、16h,随着保温时间的延长,各炉钢中碳氮化钛颗粒均会发生一定程度的粗化,第二相的粗化速率系数m值越大,粗化行为越严重.在保温8h时,t时间后第二相的平均尺寸dt变化范围为2.64~16.2nm,最大偏差在13nm左右;保温16h时,dt变化范围为3.33~20.4nm,最大偏差约为17nm,表明Ostwald熟化作用对Ti(C,N)第二相颗粒尺寸的影响不大.对钉扎奥氏体晶界、阻止奥氏体晶粒长大起主要影响作用的是第二相颗粒的初始尺寸
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