1.1光电系统描述 1.2光接收机视场 1.3光电探测器的物理效应 1.4光电转换定律和光电子计数统计 1.5光电探测器性能参数 1.6光电探测器的噪声 1.7幅度学与光度学 1.8背景辐射 1.9探测器光谱响应率函数的测试方法

第一章 光电探测基础 第二章 点探测器 第三章 直接探测与外差探测 第四章 像探测器

3.1直接探测系统性能分析 3.2提高输入S/N的方法 3.3前置放大器的噪声匹配 3.4阈值探测的光电探测统计 3.5相关检测

§5.1 信噪比的概念 噪声对测量的影响、噪声的类型 §5.2 噪声源 几种典型的内部噪声、典型传感器的噪声分析 §5.3 信噪比与系统参数 探测系统放大器的噪声系数、噪声等效带宽、红外成像系统的温度分辨率 §5.4 信噪比改善技术 频域处理、背景和信号的水平调整、光子计数、基于调制的改善技术、双光束&双通道技术、时域滤波技术、基于多阵列信号处理的技术、其他技术

结构原理 工作特性 偏置电路 等效电路 应用特点 使用注意事项

4.1光电成像概述 4.2摄像原理 4.4电荷耦合器件(CCD，(Charge Coupled Devices) 4.6CMOS图像传感器 4.7固体图像传感器主要特性参数

安徽科技学院：《光电探测与信号处理》课程教学资源（教学大纲）理论与实验大纲（打印版，主讲：何恩节）

第一阶段:传统的光学装置及仪器,不能胜任对 复杂光信息高速采集和处理的要求 第二阶段:半导体集成电路技术,可以将探测器 件及电路集成在一个整体中,也可以将具有多个 检测功能的探测器件集成在一个整体中。其价格 低,体积小。例如,将图形、物体等具有二维分 布的光学图像转换成电信号的检测器件是把基本 的光电探测器件组成许多网状阵列结构,引人注 目的器件CCD就是一种将阵列化的光电探测与扫 描功能一体化的固态图像检测器件。它是把一维 或二维的光学图像转换成时序电信号的器件,能 广泛引用于自动检测、自动控制,尤其是图像识 别技术