高等院校选用教材系列《高分子合成原理及工艺学》，科学出版社出版，李克友、张菊华、向福如主编。本教材

采用通量箱、比表面积分析仪、扫描电子显微镜和X射线光电子能谱仪测试了电石法聚氯乙烯(PVC)行业中高汞触媒、低汞触媒和废高汞触媒的汞挥发速率、比表面积、成分及汞形态.研究表明:高汞触媒、低汞触媒和废高汞触媒的汞挥发速率分别为1.04×10-7、5.90×10-8和2.47×10-4mg·g-1·min-1.高汞触媒使用后氯化汞被还原为单质汞,且汞吸附于触媒表面,导致废高汞触媒汞挥发速率远高于新汞触媒

前述普通精馏方式是以溶液中各个组分的挥发度不同作为分离的依据,若各组分的挥发度差异越大 (即相对挥发度a越大),越易分离。但工业生产中需要分离的溶液,也有不少其挥发度很接近或具有恒 沸点(最高或最低恒沸点),对于这类溶液的分离,用前诉的普通精馏方式就难以实现。例如:

在实验室中研究了电炉粉尘和煤粉加入量及温度对泡沫渣高度的影响.结果表明,在电炉渣中加入0~30%的电炉粉尘和3%~12%的煤粉(质量分数)时,随粉尘及煤粉加人量的增加以及温度的提高,泡沫渣的最大发泡高度增加;在加入电炉粉尘造泡沫渣过程中,随温度升高,渣中ZnO的还原挥发速度加快,反应6 min,Zn的挥发率大于97%.在本实验条件下,反应3min,渣中Pb小于0.02%,温度对PbO的还原挥发速度无明显影响

C.4筛板塔精馏实验 (一)实验目的 1.了解板式精馏塔的结构和操作。 2.学习精馏塔总板效率的测量方法。 (二)实验原理 1.精馏过程的原理 将双组分溶液加热,使其部分气化,则气相中的易挥发组分的浓度高于原物系的浓度 (即在气相中提浓)。对于沸点相近的双组分溶液可以将液相再次部分气化,气相部分液 化。在板式塔内进行多级的上述过程,易挥发组分在气相中不断提浓,并在塔顶馏出;难 挥发组分在液相中不断提浓,并在塔底采出,从而使两组分得到纯化

真空电弧重熔镍基高温合金GH220,自耗电极端部熔化区\突出环\内部的镁分布基本均匀;而熔化液层及液固两相区的镁分布不均匀,从熔化液层表面到原始电极区镁含量显著增高。熔化液层中距表面约0.3毫米内的镁含量[Mg]s和重熔锭镁含量[Mg]i均与电极原始镁含量[Mg]e呈直线关系,本试验条件下,[Mg]s=0.18[Mg]e;[Mg]i=0.30[Mg]e。重熔过程的镁挥发主要发生于电极端部熔滴形成阶段,挥发过程主要受控于镁由原始电极向熔化液层-气相界面迁移的速度,传质系数K12=0.107厘米·秒-1。真空感应熔炼GH220,镁挥发受液相边界层中扩散与界面挥发反应的混合控制,并非受控于气相边界层中镁的扩散。在试验条件下,液相边界层中镁的扩散与界面挥发反应总传质系数K23=10-1~10-2厘米·秒-1,而气相边界层中镁扩散的传质系数K4=47.17厘米·秒-1。根据(d[Mg])/dτ=-K23·VA及-K23与工艺参数的关系,建立了镁挥发的数学模型,即[Mg]e与镁加入量、挥发温度、气相压力、保持时间、合金液面面积、溶体体积之间的定量关系式。此模型在实验室和生产条件下均得到了很好的验证,可用于调整真空感应熔炼的工艺参数,实现有效的控制合金镁含量