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这是河南理工大学材料科学与工程学院无机非金属材料专业《现代分析测试SEM-扫描电子显微镜与电子探针显微分析》教学课件： 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）是继透射电镜（Transmissiong Electron Microscope，简称TEM）之后发展起来的一种电子显微镜。扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或透射电子显微镜不同，它是以电子束作为照明源，把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描方式照射到试样上，产生各种与试样性质有关的信息，然后加以收集和处理从而获得微观形貌放大像。

Principles and Applications of Industrial Plasma： 1、Introduction 2、Kinetic Theory of Gases 3、Motion of Charges in Electric and Magnetic Fields 4、Characteristics of Plasma 5、Electron Sources and Beams 6、Ion Sources and Beams 7、Dark Electrical Discharges in Gases 8、DC Electrical Arc Discharges in Gases 9、Inductive RF Electrical Discharges in Gases