课件说明：
这是河南理工大学材料科学与工程学院无机非金属材料专业《现代分析测试SEM-扫描电子显微镜与电子探针显微分析》教学课件：
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）是继透射电镜（Transmissiong Electron Microscope，简称TEM）之后发展起来的一种电子显微镜。扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或透射电子显微镜不同，它是以电子束作为照明源，把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描方式照射到试样上，产生各种与试样性质有关的信息，然后加以收集和处理从而获得微观形貌放大像。
