山东理工大学实验报告 材料科学与工程学院15级1班同组者王栋栋王建军马旭（三组）成绩 室温： 气压： 课程名称：无机材料显微结构分析 教师签宁 实验项目 糙面、突起、贝克线的观察与应用 指导 杨富贵 编码（三） 教师 实验目的 1.认识石英、长石、黑云母、角闪石等的突起和糙面特征 2 观察方解石的闪突起现象 3.学会利用贝克线判断相邻矿物折射率的相对大小和突起正负 实验仪器（编 偏光显微镜、试样薄片 号)材料工具 实验原理 1.矿物突起是由于矿物品体与介质折射率差别引起，差别越大突起越高。突起正 负之分则决定于矿物折射率高于（正）或低于（负）介质的折射率值。 2. 贝克线起源于光线通过矿物边缘所产生的折射作用，其结果为在相邻二矿物或 介质的接触边界上，贝克线总是出现在折射率相对较高的介质一边。此时，缩 短焦距，贝克线向折射率相对较低的介质移动，反之则反。 3.闪突起则是由于矿物切面在不同方向上与介质或环境中矿物折射率差别较大 而显示出来。 实验步骤 1糙面、突起的观察 i 从薄片上选取石英、长石、黑云母、角闪石等矿物品体，单偏光镜下对比观察 并记录和描述突起的特征 确定突起等级和正负（必要时需寻找矿物与胶结物之间的接触边界进行测定 2贝克线的观察和移动规律 选择矿物品体，当视域光线变暗时，贝克线显示明显，易观察到：此时稍微调 节焦距，可以发现贝克线的移动规律。 3闪突起的观察 选择含方解石矿物的矿片，置于物台上，调节好显微镜，转动物台，就会观察 到在方解石上出现的闪突起（即在不同位置上，方解石突起变化明显） 实验室名称：偏光显微德实验室 2018年3月16日
实验室名称：偏光显微镜实验室 2018 年 3 月 16 日 山东理工大学实验报告 材料科学与工程 学院 15 级 01 班 同组者 王栋栋 王建军 马旭（三组）成 绩 室温： 气压： 课程名称：无机材料显微结构分析 教师签字 实 验 项 目 编 码（三） 糙面、突起、贝克线的观察与应用 指 导 教 师 杨富贵 实验目的 1. 认识石英、长石、黑云母、角闪石等的突起和糙面特征 2. 观察方解石的闪突起现象 3. 学会利用贝克线判断相邻矿物折射率的相对大小和突起正负 实验仪器（编 号）材料工具 偏光显微镜、试样薄片 实验原理 1. 矿物突起是由于矿物晶体与介质折射率差别引起，差别越大突起越高。突起正 负之分则决定于矿物折射率高于（正）或低于（负）介质的折射率值。 2. 贝克线起源于光线通过矿物边缘所产生的折射作用，其结果为在相邻二矿物或 介质的接触边界上，贝克线总是出现在折射率相对较高的介质一边。此时，缩 短焦距，贝克线向折射率相对较低的介质移动，反之则反。 3. 闪突起则是由于矿物切面在不同方向上与介质或环境中矿物折射率差别较大 而显示出来。 实验步骤 1 糙面、突起的观察 i. 从薄片上选取石英、长石、黑云母、角闪石等矿物晶体，单偏光镜下对比观察 并记录和描述突起的特征 ii. 确定突起等级和正负（必要时需寻找矿物与胶结物之间的接触边界进行测定） 2 贝克线的观察和移动规律 选择矿物晶体，当视域光线变暗时，贝克线显示明显，易观察到；此时稍微调 节焦距，可以发现贝克线的移动规律。 3 闪突起的观察 选择含方解石矿物的矿片，置于物台上，调节好显微镜，转动物台，就会观察 到在方解石上出现的闪突起（即在不同位置上，方解石突起变化明显）
1,糙面、突起的观察 糙面 高突起 2,方解石的闪突起 实验室名称：偏光显微镜实验室 2018年3月16日
实验室名称：偏光显微镜实验室 2018 年 3 月 16 日 1，糙面、突起的观察 2，方解石的闪突起 糙面 高突起
3,贝克线的观察和移动规律 实验室名称：偏光显微德实验室 2018年3月16日
实验室名称：偏光显微镜实验室 2018 年 3 月 16 日 3，贝克线的观察和移动规律
实验室名称：偏光显微镜实验室 2018年3月16日
实验室名称：偏光显微镜实验室 2018 年 3 月 16 日
问题讨论： a)升降载物台贝克线的变化规律？ 1.升起载物台时焦距变小，贝克线向折射率小的一方移动。 2.升起载物台时焦距变大，贝克线向折射率大的一方移动。 3.但贝克线总在折射率大的一方。 b)突起的分类：以树胶的折射率1.540为标准，将突起划分为不同的等级 折射率大于1.540的为正突起，小于1.540的为负突起。根据晶粒的糙面 和轮廓线的明显程度将突起分为若干等级，正突起分低、中、高、极高 等四级，负突起只分低高两级， c)糙面形成的原因？ 薄片中晶粒的上下都与加拿大树胶接触，试样的磨平面总是存在细微的 凹凸不平，当光线照射到晶粒与树胶的界面时因折射率不等将发生折射， 透过薄片各处的光线集散不一而是晶粒内部不同而显得粗糙，称为矿物 的糙面。糙面的显著程度决定于晶体与树胶的相对折射率。折射率相差 较大晶粒内较为粗糙，反之糙面不明显。有时只有光圈缩小才能看到糙 面，当二者折射率相近时相近时就无糙面显现。 实验室名称：偏光显微镜实验室 2018年3月16日
实验室名称：偏光显微镜实验室 2018 年 3 月 16 日 问题讨论： a) 升降载物台贝克线的变化规律？ 1. 升起载物台时焦距变小，贝克线向折射率小的一方移动。 2. 升起载物台时焦距变大，贝克线向折射率大的一方移动。 3. 但贝克线总在折射率大的一方。 b) 突起的分类：以树胶的折射率 1.540 为标准，将突起划分为不同的等级： 折射率大于 1.540 的为正突起，小于 1.540 的为负突起。根据晶粒的糙面 和轮廓线的明显程度将突起分为若干等级，正突起分低、中、高、极高 等四级，负突起只分低高两级。 c) 糙面形成的原因？ 薄片中晶粒的上下都与加拿大树胶接触，试样的磨平面总是存在细微的 凹凸不平，当光线照射到晶粒与树胶的界面时因折射率不等将发生折射， 透过薄片各处的光线集散不一而是晶粒内部不同而显得粗糙，称为矿物 的糙面。糙面的显著程度决定于晶体与树胶的相对折射率。折射率相差 较大晶粒内较为粗糙，反之糙面不明显。有时只有光圈缩小才能看到糙 面，当二者折射率相近时相近时就无糙面显现