数字电子技术实验主编：李天华衣艺山东农业大学机械与电子工程学院使用DTTacuoTneointH
数字电子技术实验 主编：李天华 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
目录1、使用要求及注意事项2、数字电路基本知识3、基本实验实验一基本逻辑门逻辑实验.5实验四数据选择器和译码器，.8实验七触发器115、附录常用实验器件引线图..-16注：其它实验项目可根据教学要求自拟实验内容、步骤、方法。1PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
1 目 录 1、使用要求及注意事项 2、数字电路基本知识.1 3、基本实验 实验一基本逻辑门逻辑实验.5 实验四 数据选择器和译码器.8 实验七 触发器.11 5、附录 常用实验器件引线图 .16 注：其它实验项目可根据教学要求自拟实验内容、步骤、方法。 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
1、实验要求及注意事项1、实验前必充分预习实验内容，做到思路清晰，实验任务明确。2、实验时认真阅读实验指导书，按电路原理图正确连接实验导线，仔细检查无误，方可通电实验。3、实验中多注意观察，如有元器件冒烟、发烫或有异味等应立即关断电源，报告实验老师，待找出原因、排除故障后才能重新实验。4、实验中须更改连线，必须切断电源后才能进行。5、实验中应仔细观察实验现象，认真记录实验结果、数据、波形、分析正确与否。6、实验结束关闭电源，拔除电源插头，并将仪器设备、工具、导线等按规定整理好。2PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
2 1、实验要求及注意事项 1、实验前必充分预习实验内容，做到思路清晰，实验任务明确。 2、实验时认真阅读实验指导书，按电路原理图正确连接实验导线，仔 细检查无误，方可通电实验。 3、实验中多注意观察，如有元器件冒烟、发烫或有异味等应立即关断 电源，报告实验老师，待找出原因、排除故障后才能重新实验。 4、实验中须更改连线，必须切断电源后才能进行。 5、实验中应仔细观察实验现象，认真记录实验结果、数据、波形、分 析正确与否。 6、实验结束关闭电源，拔除电源插头，并将仪器设备、工具、导线等 按规定整理好。 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
2、数电路实验基本知识一、数字集成电路封装中、小规模数字IC中最常用的是TTL电路和CMOS电路。TTL器件型号以74（或54）作前缀，称为74/54系列，如74LS10、74LS181、54S86等。中、小规模CMOS数字集成电路主要是4XXX/45XX(X代表0一9的数字）系列，高速CMOS电路HC（74HC系列)，与TTL兼容的高速CMOS电路HCT（74HCT系列）。TTI电路与CMOS电路各有优缺点，TTL速度高，CMOS电路功耗小、电源范围大、抗于扰能力强。由于TTL在世界范围内应用很广，所以在数字电路教学实验中，我们主要使用TTL74系列电路作为实验用器件，采用单一+5V作为供电电源。数字IC器件有多种封装形式。为了教学实验方便，实验中所用的74系列器件封装选用双列直插式。图1是双列直插封装的正面示意图。双列直插封装有以下特点：OC6543214443424140C福73983814132C371210363113541012广34T913336R814732口15311630C口1729门1819202122232425262728OOOOO图1DIP双列直插式封装图图2PLCC封装图1、从正面（上面）看，器件一端有一个半圆的缺口，这是正方向的标志。缺口左边的引脚号为1，引脚号按逆时针方向增加。图1中的数字表示引脚号。双列直插封装IC引脚数有14、16、20、24、28等若干种。2、双列直插器件有两列引脚。引脚之间的间距是2.54毫米。两列引脚之间的距离有宽（15.24毫米）、窄（7.62毫米）两种。两列引脚之间的距离能够少做改变，引脚间距不能改变。将器件插入实验板上的插座中去，从插座中拔出时要小心，不要将器件引脚搞弯或折断。3、74系列器件一般左下角的最后一个引脚是GND，右上角的引脚是Vcc。例3PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
3 2、数字电路实验基本知识 一、数字集成电路封装 中、小规模数字 IC 中最常用的是 TTL 电路和 CMOS 电路。TTL 器件型号以 74（或 54）作前缀，称为 74/54 系列，如 74LS10、74LS181、54S86 等。中、小规 模 CMOS 数字集成电路主要是 4XXX/45XX（X 代表 0—9 的数字）系列，高速 CMOS 电路 HC（74HC 系列），与 TTL 兼容的高速 CMOS 电路 HCT（74HCT 系列）。TTL 电路与 CMOS 电路各有优缺点，TTL 速度高，CMOS 电路功耗小、电源范围大、 抗干扰能力强。由于 TTL 在世界范围内应用很广，所以在数字电路教学实验中，我 们主要使用 TTL74 系列电路作为实验用器件，采用单一+5V 作为供电电源。 数字 IC 器件有多种封装形式。为了教学实验方便，实验中所用的 74 系列器件 封装选用双列直插式。图 1 是双列直插封装的正面示意图。双列直插封装有以下特 点： 图 1 DIP 双列直插式封装图 图 2 PLCC 封装图 1、从正面（上面）看，器件一端有一个半圆的缺口，这是正方向的标志。缺 口左边的引脚号为 1，引脚号按逆时针方向增加。图 1 中的数字表示引脚号。双列 直插封装 IC 引脚数有 14、16、20、24、28 等若干种。 2、双列直插器件有两列引脚。引脚之间的间距是 2.54 毫米。两列引脚之间的 距离有宽（15.24 毫米）、窄（7.62 毫米）两种。两列引脚之间的距离能够少做改变， 引脚间距不能改变。将器件插入实验板上的插座中去，从插座中拔出时要小心，不 要将器件引脚搞弯或折断。 3、74 系列器件一般左下角的最后一个引脚是 GND，右上角的引脚是 VCC 。例 1 2 3 4 5 6 7 14 13 12 11 10 9 8 6 5 4 3 2 1 44 43 42 41 40 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 39 38 37 36 35 34 33 32 31 30 29 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
如，14引脚器件引脚7是GND，引脚14是Vcc：20引脚器件引脚10是GND，引脚20是Vcc。但也有一些例外，例如16引脚的双JK触发器74LS76，引脚13（不是引脚8）是GND，引脚5（不是引脚16）是Vcc。所以使用集成电路器件时要先看清它的引脚图，找对电源和地，避免因接线错误造成器件损环。数字电路综合实验中，使用的复杂可编程逻辑器件EPM7032是44引脚的PLCC（PlasticLeadedChipCarrier）封装，图2是封装正面图。器件上的小圆圈指示引脚1，引脚号按时针方向增加，引脚2在引脚1的左边，引脚44在引脚1的右边。EPM7032有多个电源引脚号、地引脚号，器件的缺角要对准插座的缺角。PLCC封装器件管脚较多拨出时应更加小心，可以使用专门的起拨器，也可以使用镊子从对角缝隙轻轻拔出。实验设备上的接线端上的接线采用自锁紧插头、插孔（插座）。使用自锁紧插头、插孔接线时，首先把插头插进插孔中，然后将插头按顺时针方向轻轻一拧则锁紧。拔出插头时，首先按逆时针方向轻轻拧一下插头，使插头和插孔之间松开，然后将插头从插孔中拨出。不要使劲拨插头，以免损坏插头和连线，必须注意，不能带电插、拨器件。插、拨器件只能在关断电源的情况下进行。三、数字电路测试及故障查找、排除设计好一个数字电路后，要对其进行测试，以验证设计是否正确。测试过程中，发现问题要分析原因，找出故障所在，并解决它。数字电路实验也遵循这些原则。1、数字电路测试数字电路测试大体上分为静态测试和动态测试两部分。静态测试指的是，给定数字电路若干组静态输入值，测试数字电路的输出值是否正确。数字电路设计好后，在实验台上连接成一个完整的线路。把线路的输入接逻辑开关输出，线路的输出接逻辑状态指示灯，按功能表或状态表的要求，改变输入状态，观察输入和输出之间的关系是否符合设计要求。静态测试是检查设计是否正确，接线是否无误的重要一步。在静态测试基础上，按设计要求在输入端加动态脉冲信号，观察输出端波形是否符合设计要求，这是动态测试。有些数字电路只需进行静态测试即可，有些数字电路则必须进行动态测试。一般地说，时序电路应进行动态测试。2、数字电路的故障查找和排除在数字电路实验中，出现问题是难免的。重要的是分析问题，找出出现问题的原因，从而解决它。一般地说，有四个方面的原因产生问题（故障）：器件故障、接线错误、设计错误和测试方法不正确。在查找故障过程中，首先要熟悉经常发生的典型故障。（1）器件故障器件故障是器件失效或器件接插问题引起的故障，表现为器件工作不正常。不言而愉，器件失效肯定会引起工作不正常，这需要更换一个好器件。器件接插问题，如管脚折断或者器件的某个（或某些）引脚没插到插座中等，也会使器件工作不正常。对于器件接插错误有时不易发现，需仔细检查。判断器件失效的方法是用4PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
4 如，14 引脚器件引脚 7 是 GND，引脚 14 是 VCC ；20 引脚器件引脚 10 是 GND， 引脚 20 是 VCC 。但也有一些例外，例如 16 引脚的双 JK 触发器 74LS76，引脚 13 （不是引脚 8）是 GND，引脚 5（不是引脚 16）是 VCC 。所以使用集成电路器件时 要先看清它的引脚图，找对电源和地，避免因接线错误造成器件损坏。 数字电路综合实验中，使用的复杂可编程逻辑器件EPM7032是44引脚的PLCC （Plastic Leaded Chip Carrier）封装，图 2 是封装正面图。器件上的小圆圈指示引脚 1，引脚号按逆时针方向增加，引脚 2 在引脚 1 的左边，引脚 44 在引脚 1 的右边。 EPM7032 有多个电源引脚号、地引脚号，器件的缺角要对准插座的缺角。PLCC 封 装器件管脚较多拔出时应更加小心，可以使用专门的起拔器，也可以使用镊子从对 角缝隙轻轻拔出。 实验设备上的接线端上的接线采用自锁紧插头、插孔（插座）。使用自锁紧插 头、插孔接线时，首先把插头插进插孔中，然后将插头按顺时针方向轻轻一拧则锁 紧。拔出插头时，首先按逆时针方向轻轻拧一下插头，使插头和插孔之间松开，然 后将插头从插孔中拔出。不要使劲拔插头，以免损坏插头和连线。 必须注意，不能带电插、拔器件。插、拔器件只能在关断电源的情况下进行。 三、数字电路测试及故障查找、排除 设计好一个数字电路后，要对其进行测试，以验证设计是否正确。测试过程中， 发现问题要分析原因，找出故障所在，并解决它。数字电路实验也遵循这些原则。 1、数字电路测试 数字电路测试大体上分为静态测试和动态测试两部分。静态测试指的是，给定 数字电路若干组静态输入值，测试数字电路的输出值是否正确。数字电路设计好后， 在实验台上连接成一个完整的线路。把线路的输入接逻辑开关输出，线路的输出接 逻辑状态指示灯，按功能表或状态表的要求，改变输入状态，观察输入和输出之间 的关系是否符合设计要求。静态测试是检查设计是否正确，接线是否无误的重要一 步。 在静态测试基础上，按设计要求在输入端加动态脉冲信号，观察输出端波形是 否符合设计要求，这是动态测试。有些数字电路只需进行静态测试即可，有些数字 电路则必须进行动态测试。一般地说，时序电路应进行动态测试。 2、数字电路的故障查找和排除 在数字电路实验中，出现问题是难免的。重要的是分析问题，找出出现问题的 原因，从而解决它。一般地说，有四个方面的原因产生问题（故障）：器件故障、 接线错误、设计错误和测试方法不正确。在查找故障过程中，首先要熟悉经常发生 的典型故障。 （1）器件故障 器件故障是器件失效或器件接插问题引起的故障，表现为器件工作不正常。 不言而喻，器件失效肯定会引起工作不正常，这需要更换一个好器件。器件接插问 题，如管脚折断或者器件的某个（或某些）引脚没插到插座中等，也会使器件工作 不正常。对于器件接插错误有时不易发现，需仔细检查。判断器件失效的方法是用 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
集成电路测试仪测试器件。需要指出的是，一般的集成电路测试仪只能检测器件的某些静态特性。对负载能力等静态特性和上升沿、下降沿、延迟时间等动态特性，一般的集成电路测试仪不能测试。测试器件的这些参数，须使用专门的集成电路测试仪。（2）接线错误接线错误是最常见的错误。据有人统计，在教学实验中，大约百分之七十以上的故障是由接线错误引起的。常见的接线错误包括忘记接器件的电源和地：连线与插孔接触不良：连线经多次使用后，有可能外面塑料包皮完好，但内部线断：连线多接、漏接、错接；连线过长、过乱造成干扰。接线错误造成的现象多种多样，例如器件的某个功能块不工作或工作不正常，器件不工作或发热，电路中一部分工作状态不稳定等。解决方法大致包括：熟悉所用器件的功能及其引脚号，知道器件每个引脚的功能；器件的电源和地一定要接对、接好：检查连线和插孔接触是否良好：检查连线有无错接、多接、漏接：检查连线中有无断线。最重要的是接线前要画出接线图，按图接线，不要凭记忆随想随接：接线要规范、整齐，尽量走直线短线，以免引起干扰。（3）设计错误设计错误自然会造成与预想的结果不一致。原因是对实验要求没有吃透，或者是对所用器件的原理没有掌握。因此实验前一定要理解实验要求，掌握实验线路原理，精心设计。初始设计完成后一般应对设计进行优化。最后画好逻辑图及接线图。（4）测试方法不正确如果不发生前面所述三种错误，实验一般会成功。但有时测试方法不正确也会引起观测错误。例如，一个稳定的波形，如果用示波器观测，而示波器没有同步，则造成波形不稳的假象。因此要学会正确使用所用仪器、仪表。在数字电路实验中，尤其要学会正确使用示波器。在对数字电路测试过程中，由于测试仪器、仪表加到被测电路上后，对被测电路相当于一个负载，因此测试过程中也有可能引起电路本身工作状态的改变，这点应引起足够注意。不过，在数字电路实验中，这种现象很少发生。当实验中发现结果与预期不一致时，千万不要慌乱。应仔细观测现象，冷静思考问题所在。首先检查仪器、仪表的使用是否正确。在正确使用仪器、仪表的前提下，按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。通常从发现问题的地方，一级一级向前测试，直到找出故障的初始发生位置。在故障的初始位置处，首先检查连线是否正确。前面已说过，实验故障绝大部分是由接线错误引起的，因此检查一定要认真、仔细。确认接线无误后，检查器件引脚是否全部正确插进插座中，有无引脚折断、弯曲、错插问题以及实验板器件插接端与引出端是否有断路或旁接现象。确认无上述问题后，取下器件测试，以检查器件好环，或者直接换一个好器件。如果器件和接线都正确，则需考虑设计问题。5PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
5 集成电路测试仪测试器件。需要指出的是，一般的集成电路测试仪只能检测器件的 某些静态特性。对负载能力等静态特性和上升沿、下降沿、延迟时间等动态特性， 一般的集成电路测试仪不能测试。测试器件的这些参数，须使用专门的集成电路测 试仪。 （2）接线错误 接线错误是最常见的错误。据有人统计，在教学实验中，大约百分之七十以 上的故障是由接线错误引起的。常见的接线错误包括忘记接器件的电源和地；连线 与插孔接触不良；连线经多次使用后，有可能外面塑料包皮完好，但内部线断；连 线多接、漏接、错接；连线过长、过乱造成干扰。接线错误造成的现象多种多样， 例如器件的某个功能块不工作或工作不正常，器件不工作或发热，电路中一部分工 作状态不稳定等。解决方法大致包括：熟悉所用器件的功能及其引脚号，知道器件 每个引脚的功能；器件的电源和地一定要接对、接好；检查连线和插孔接触是否良 好；检查连线有无错接、多接、漏接；检查连线中有无断线。最重要的是接线前要 画出接线图，按图接线，不要凭记忆随想随接；接线要规范、整齐，尽量走直线、 短线，以免引起干扰。 （3）设计错误 设计错误自然会造成与预想的结果不一致。原因是对实验要求没有吃透，或 者是对所用器件的原理没有掌握。因此实验前一定要理解实验要求，掌握实验线路 原理，精心设计。初始设计完成后一般应对设计进行优化。最后画好逻辑图及接线 图。 （4）测试方法不正确 如果不发生前面所述三种错误，实验一般会成功。但有时测试方法不正确也 会引起观测错误。例如，一个稳定的波形，如果用示波器观测，而示波器没有同步， 则造成波形不稳的假象。因此要学会正确使用所用仪器、仪表。在数字电路实验中， 尤其要学会正确使用示波器。在对数字电路测试过程中，由于测试仪器、仪表加到 被测电路上后，对被测电路相当于一个负载，因此测试过程中也有可能引起电路本 身工作状态的改变，这点应引起足够注意。不过，在数字电路实验中，这种现象很 少发生。 当实验中发现结果与预期不一致时，千万不要慌乱。应仔细观测现象，冷静思 考问题所在。首先检查仪器、仪表的使用是否正确。在正确使用仪器、仪表的前提 下，按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。通常从发现问题的地方，一级一 级向前测试，直到找出故障的初始发生位置。在故障的初始位置处，首先检查连线 是否正确。前面已说过，实验故障绝大部分是由接线错误引起的，因此检查一定要 认真、仔细。确认接线无误后，检查器件引脚是否全部正确插进插座中，有无引脚 折断、弯曲、错插问题以及实验板器件插接端与引出端是否有断路或旁接现象。确 认无上述问题后，取下器件测试，以检查器件好坏，或者直接换一个好器件。如果 器件和接线都正确，则需考虑设计问题。 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
3、基本实验实验一基本逻辑门逻辑实验一、实验目的1、掌握TTL与非门、与或门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。2、熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。二、实验所用器件和仪表1片1、二输入四与非门74LS001片2、二输入四或非门74LS281片3、二输入四异或门74LS86三、实验内容1、测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系2、测试二输入四或非门74LS28一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系3、测试二输入四异或门74LS86一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系四、实验提示1、将被测器件插入实验箱上的14脚插座中。2、将器件的引脚7与实验箱的“地（GND）”连接，将器件的引脚14与实验箱的+5V连接。3、用实验箱的逻辑开关输出作为被测器件的输入。按入或弹出逻辑开关，则改变器件的输入电平。4、将被测器件的输出引脚与实验箱上的逻辑状态显示灯连接。指示灯亮红色表示输出电平为1，指示灯亮绿色表示输出电平为0。五、实验接线图及实验结果74LS00中包含4个二与非门，74LS28中包含4个二或非门，74LS86中包含4个二异或门，下面各画出测试第一个逻辑门逻辑关系的接线图及测试结果。测试其它逻辑门时的接线图与之类似。测试时各器件的引脚7接地，引脚14接+5V。图中的K1、K2是逻辑开关输出，LED0是逻辑状态显示灯。1、测试74LS00逻辑关系接线图及测试结果U2AK1营LELO27ALS006PDF文件使用”pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
6 3、基本实验 实验一 基本逻辑门逻辑实验 一、实验目的 1、掌握 TTL 与非门、与或门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。 2、熟悉 TTL 中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。 二、实验所用器件和仪表 1、二输入四与非门 74LS00 1 片 2、二输入四或非门 74LS28 1 片 3、二输入四异或门 74LS86 1 片 三、实验内容 1、测试二输入四与非门 74LS00 一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系 2、测试二输入四或非门 74LS28 一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系 3、测试二输入四异或门 74LS86 一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系 四、实验提示 1、将被测器件插入实验箱上的 14 脚插座中。 2、将器件的引脚 7 与实验箱的“地（GND）”连接，将器件的引脚 14 与实验箱的 +5V 连接。 3、用实验箱的逻辑开关输出作为被测器件的输入。按入或弹出逻辑开关，则改变 器件的输入电平。 4、将被测器件的输出引脚与实验箱上的逻辑状态显示灯连接。指示灯亮红色表示 输出电平为 1，指示灯亮绿色表示输出电平为 0。 五、实验接线图及实验结果 74LS00 中包含 4 个二与非门，74LS28 中包含 4 个二或非门，74LS86 中包 含 4 个二异或门，下面各画出测试第一个逻辑门逻辑关系的接线图及测试结果。 测试其它逻辑门时的接线图与之类似。测试时各器件的引脚 7 接地，引脚 14 接 +5V。图中的 K1、K2 是逻辑开关输出，LED0 是逻辑状态显示灯。 1、测试 74LS00 逻辑关系接线图及测试结果 PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
图1.1测试74LS00逻辑关系接输入输出线图表1.174LS00真值表引脚1引脚2引脚3LLH2、测试74LS28逻辑关系接线图及测HLHLHHU.A3HHLKI21试结果LIDO).K2输入输出741.828引脚1引脚2引脚3LLH图1.2测试74LS28逻辑关系接线图LHL表1.274LS28真值表HLLHHL3、测试74LS86逻辑关系接线图及测试结果输入输出A引脚1引脚2引脚32LLLLELLHHK2HLH1.s3HHL表1.2图1.3测试74LS86逻辑关系接线图74LS86真值表六、实验报告整理实验结果，并分别测试各逻辑门的另三个门的逻辑关系，记录结果。实验二数据选择器和译码器一、实验目的1、熟悉数据选择器的逻辑功能。2、熟悉译码器的逻辑功能。二、实验所用器件和仪表7PDF文件使用"pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
7 图 1.1 测试 74LS00 逻辑关系接 线图 表 1.1 74LS00 真值表 2、测试 74LS28 逻辑关系接线图及测 试结果 图 1.2 测试 74LS28 逻辑关系接线图 表 1.2 74LS28 真值表 3、测试 74LS86 逻辑关系接线图及测 试结果 图 1.3 测试 74LS86 逻辑关系接线图 表 1.2 74LS86 真值表 六、实验报告 整理实验结果，并分别测试各逻辑门的另三个门的逻辑关系，记录结果。 实验二 数据选择器和译码器 一、实验目的 1、熟悉数据选择器的逻辑功能。 2、熟悉译码器的逻辑功能。 二、实验所用器件和仪表 输 入 输 出 引脚 1 引脚 2 引脚 3 L L H L H H H L H H H L 输 入 输 出 引脚 1 引脚 2 引脚 3 L L H L H L H L L H H L 输 入 输 出 引脚 1 引脚 2 引脚 3 L L L L H H H L H H H L PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
1片1、双4选1数据选择器74LS1531片2、双2—4线译码器74LS1393、万用表4、示波器三、实验内容1、测试74LS153中一个4选1数据选择器的逻辑功能4个数据输入引脚1C0一1C3分别接实验板上的4个固定脉冲信号源或4位逻辑电平。改变数据选择器引脚A、B和使能引脚G的电平，产生8种不同的组合。观测每种组合下数据选器的输出波形或逻辑电平。2、测试74LS139中一个2一4译码器的逻辑功能。4个译码输出引脚Yo一Y3接逻辑状态指示灯。改变引脚G、B、A的电平，产生4种组合。观测并记录指示灯的显示状态。四、实验接线图及实验结果1、74LS153实验接线图和14.K21G号74LS153真值表2K31CK1MUX6CO57CIG4C23图2.174LS153实验接线C315图C1011912138PDF文件使用”pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
8 1、双 4 选 1 数据选择器 74LS153 1 片 2、双 2—4 线译码器 74LS139 1 片 3、万用表 4、示波器 三、实验内容 1、测试 74LS153 中一个 4 选 1 数据选择器的逻辑功能。 4 个数据输入引脚 1C0—1C3 分别接实验板上的 4 个固定脉冲信号源或 4 位逻辑 电平。改变数据选择器引脚 A、B 和使能引脚 G1的电平，产生 8 种不同的组合。观 测每种组合下数据选择器的输出波形或逻辑电平。 2、测试 74LS139 中一个 2—4 译码器的逻辑功能。 4 个译码输出引脚 Y0—Y3接逻辑状态指示灯。改变引脚 G、B、A 的电平，产生 4 种组合。观测并记录指示灯的显示状态。 四、实验接线图及实验结果 1、74LS153 实验接线图和 74LS153 真值表 图 2.1 74LS153 实验接线 图 14 2 1 6 5 4 3 15 10 11 12 13 7 9 MUX G 0_ 3 K2 K3 K1 C0 C1 C2 C3 G PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn
表 2.1174LS153真值表选通选择输入数据输入输出BGYACoC1C2C3XXxXxXHLLLLXXxLLLLHLHXxXLHXLXXLLLHXHXXLHHLLLXxLXLHLXXHXHHHXXXLLLHHXHLHXX图2.1中，K1、K2、K3是逻辑开关输出。2、74LS139实验接线图和74LS139真值表。U输入端F1LS139输出端XY选择允许G100I.EI2BAYOY1Y2Y3J3L.E116HXXHHHHL.I2LEDJLOLLLHHH12O11LLHL14HHH1D)T3LH0LHHLH91.5OHHLHHHL图2—274LS139实验接线图表2.274LS139真值表图2—2中，K1、K2、K3、是逻辑开关输出，LEDO、LED1、LED2、LED3是逻辑状态指示灯。3、74LS139和74LS153中，引脚G用于控制输出。在74LS153中，当G为高电平时，禁止输出，输出为低电平；当G为低电平时，允许输出，由数据选择端B、A决定CO、C1、C2、C3中的哪中数据送往数据输出端Y。在74LS139中，当G为高电平时，禁止输出，所有输出YO、Y1、Y2、Y3为高电平：当G为低电平时，允许输出，由数据选择端B、A决定输出YO、Y1、Y2、Y3中的哪路数据为低电平。9PDF文件使用“pdfFactoryPro”试用版本创建www.fineprint.cn
9 表 2.1 74LS153 真值表 图 2.1 中，K1、K2、K3 是逻辑开关输出。 2、74LS139 实验接线图和 74LS139 真值表。 图 2—2 74LS139 实验接线图 表 2.2 74LS139 真值表 图 2—2 中，K1、K2、K3、是逻辑开关输出，LED0、LED1、LED2、LED3 是 逻辑状态指示灯。 3、74LS139 和 74LS153 中，引脚 G 用于控制输出。在 74LS153 中，当 G 为高电平 时，禁止输出，输出为低电平；当 G 为低电平时，允许输出，由数据选择端 B、 A 决定 C0、C1、C2、C3 中的哪中数据送往数据输出端 Y。在 74LS139 中，当 G 为高电平时，禁止输出，所有输出 Y0、Y1、Y2、Y3 为高电平；当 G 为低电平 时，允许输出，由数据选择端 B、A 决定输出 Y0、Y1、Y2、Y3 中的哪路数据为 低电平。 选择输入 数据输入 选通 输出 B A C0 C1 C2 C3 G Y X X X X X X H L L L L X X X L L L L H X X X L H L H X L X X L L L H X H X X L H H L X X L X L L H L X X H X L H H H X X X L L L H H X X X H L H 输入端 选择 输出端 允许 G B A Y0 Y1 Y2 Y3 H X X H H H H L L L L H H H L L H H L H H L H L H H L H L H H H H H L PDF 文件使用 "pdfFactory Pro" 试用版本创建 www.fineprint.cn