例1:用移位寄存器74LS194构成周期序列: 周期序列00001101产生器。 0000 QAQBQ DL 解:①列移位状态表 0 000001 ②确定D的取值,求驱动方程:200110 01101 L人QQ 010 QAQB00011110 0100 01000 00 0× 7010000 010×× 8 00001 1×0× 100××0 AB Qc +QB c
①列移位状态表 ②确定DL的取值，求驱动方程： DL = QA QB QC + QB QC 周期序列： 00001101 4 0 1 1 0 1 0 5 1 1 0 1 0 0 6 1 0 1 0 0 0 7 0 1 0 0 0 0 8 1 0 0 0 0 1 态序 QAQBQ DL CQD 序列 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 1 1 2 0 0 0 1 1 0 3 0 0 1 1 0 1 10 0 × × 0 11 × 0 × × 01 0 × × 1 00 1 1 0 × Q 00 01 11 10 AQB QCQD DL 解： 例1：用移位寄存器74LS194构成 周期序列00001101产生器
电路DL= QA QB QC+QBQC QA+QB+Qc+ Qb Qc 序列输出 ≥1 Q Q Q A<BC< 1-CLR S11 74194 ≥1 CP CP SHo SR A B C D S S1S0=10左移 思考:请检查自启动功能
③电路 A B C B C L A B C B C Q Q Q Q Q D Q Q Q Q Q = + + + = + S1S0=10—左移 思考：请检查自启动功能
例2:用移位寄存器74LS19构成4位m序 列(11110001011010)产生器。 解: 1111000100110101114000 1111 111 100 1000 0001 状态变化顺序 0010 0100 1001 0011 0011 1101 1010 0101 101 移位状态分析: 0111 1111 15个独立状态,左移
例2：用移位寄存器74LS194构成4位m序 列（111 1000 1001 1010）产生器。 解： 1 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 0 1111 1110 1100 1000 0001 0010 0100 1001 0011 0011 1101 1010 1011 0111 1111 0101 移位状态分析: 15个独立状态,左移
1111000100110101111000 1111 1110 110 00 00 001 10 0111 状态图 111 0001)→0010(100(1001(0011(011 (0000 1101 QAQBQCQI 100 〔010 Q10110-(1-01)-01-(0
1 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 0 1111 1110 1100100000010010010010010011011011011010 10110111 1111 0101 0001 0010 0100 1001 0011 0110 1101 1010 1100 1110 1111 0111 1011 0101 1000 0000 QAQBQCQD 状态图:
移位状态表: 序列输出 态序序列 QAQBQ D 0 100 1 otn Q ABCOD n000 74194 2345678 001 CP CP 0 RAB C D Su 00010 0400100 00 001 01 010 11 QA⊕QB 9001101 10011010 思考 11110101 ()添加自启动电路。 2101011 13010111 (只添加1个或可否实观自15111 启动
4 1 0 0 0 1 0 5 0 0 0 1 0 0 6 0 0 1 0 0 1 7 0 1 0 0 1 1 15 0 1 1 1 1 0 8 1 0 0 1 1 0 9 0 0 1 1 0 1 10 0 1 1 0 1 0 11 1 1 0 1 0 1 12 1 0 1 0 1 1 13 0 1 0 1 1 1 14 1 0 1 1 1 1 态序 序列 QAQBQ CQD DL 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 0 2 1 1 1 0 0 0 3 1 1 0 0 0 1 DL = QA QB 移位状态表: 思考： ⑴添加自启动电路。 ⑵只添加1个或非门可否实现自 启动。 CP CLR S1 S0 SR A B C D SL Q A Q B Q C Q D 74194 1 0 1 CP =1 序列输出
序列输出 QAQBQCQD dCLR 74194 CP-CP RA C D SL 当194状态为: QAQrQNQ=000,SS0=11, 进行置数,使 QAQRQNQ=110
CP CLR S1 S0 SR A B C D SL Q A Q B Q C Q D 74194 1 1 CP =1 序列输出 ≥1 1 1 1 1 当194状态为：QAQBQCQD ＝0000时，S1 S0 ＝11， 进行置数，使QAQBQCQD ＝1111
例3.计数译码型序列信号发生器选自《电子线路设计实验测试》(谢自美 设计以计数器161为核心,产生000100110101111序列的信 号发生器。 表5312M序列信号状态表(一) 分析: CP 0 15位序列码,对应15个状态, Q00 故整个电路可用15进制计数 Y0001 器和译码电路组成。 Q0000000 1001 序列信号状态表: 56789 01010101o101010 011010 对应的序列输出 15个计数状态 101 0000 11 2 3 0011001
例3. 计数译码型序列信号发生器 设计以计数器161为核心，产生0001 0011 0101 111序列的信 号发生器。 选自《电子线路设计·实验·测试》（谢自美） 分析： 15位序列码，对应15个状态， 故整个电路可用15进制计数 器和译码电路组成。 序列信号状态表： 15个计数状态 对 应 的 序 列 输 出 0 1
电路: 表5312M序列信号状态表(一) 0 0000 01 000 Y00010 0 10 0000 LD CC40161 CT, “1110”与非 日2江江。 置0法构成15 进制计数器。 e,00 图5320计数译码型M序列脉冲发生器Q400110 Y=g3Q2Q2Q1·Q3C0·Q10 ×
电路： 0 1 00 01 11 10 00 01 11 10 Q 3Q2 Q 1Q0 1 1 1 1 1 3 2 2 1 3 0 1 0 1 1 × 1 Y = Q Q Q Q Q Q Q Q “1110”与非, 置0法构成15 进制计数器
例4:用移位寄存器74LS194构成“1101”序列检测器 & 74194 QAQBQCQD CLR CP CP SA B c d 当X依次输入1、1、0、1时,输出Z=1;否则Z=0。因此 Z表示检测到“1101序列。 说明:最后一个1还可以作为下一组“1101”的第一个1,这称为 允许输入序列码重叠。这种序列检测称之为重叠型序列检测器。 思考:用74194设计一个如输入为:00110110110100时, 非重叠型序列检测器。 输出为:00000100000100
例4：用移位寄存器74LS194构成“1101”序列检测器 当X依次输入1、1、0、1时，输出Z＝1；否则Z＝0。因此 Z表示检测到“1101”序列。 说明：最后一个1还可以作为下一组“1101”的第一个1，这称为 允许输入序列码重叠。这种序列检测称之为重叠型序列检测器。 思考：用74194设计一个 非重叠型序列检测器。 如输入为：00110110110100时， 输出为：00000100000100 CP CLR S1 S0 SR A B C D SL Q A Q B Q C Q D 1 0 1 CP Z X & 74194 1 1 1 0 1
例4:用移位寄存器74LS194构成“1101”序列检测器 Z & 74194 QAQBQcQD -CLR CP→CP SRA BCD X 000 思考:用74194设计一个如输入为:00110110110100时, 非重叠型序列检测器。 输出为:00000100000100 输入不为1101时:Z=0,S1S0=10,左移。 输入为1101时:z=1,S1s0=11,置数,下一个cP时 ABCD=000X, BPQAQpQcQn=000X 此后,在CP作用下,194左移
例4：用移位寄存器74LS194构成“1101”序列检测器 思考：用74194设计一个 非重叠型序列检测器。 如输入为：00110110110100时， 输出为：00000100000100 输入不为 1101时：Z＝0，S1S0＝10，左移。 输入为 1101时：Z＝1，S1S0＝11，置数，下一个CP时 ABCD＝000X，即QAQBQCQD ＝000X； 此后，在CP作用下，194左移。 CP CLR S1 S0 SR A B C D SL Q A Q B Q C Q D 1 1 CP Z X & 74194 1 1 1 0 1 0 0 0