85-3正交镜下的晶体光学性质本节要点：了解正交偏光镜的装置及光学特点了解几种常用补色器特点及适用范围掌握消光、消色及补色法则的概念掌握正交偏光镜间主要光学性质的观察与测定方法-光率体椭圆半径方向及名称的测定；-干涉色级序的观察与测定；-消光类型及消光角的测定；一晶体延性符号的测定：一双晶的观察
§5-3 正交镜下的晶体光学性质 本节要点： ● 了解正交偏光镜的装置及光学特点 ● 了解几种常用补色器特点及适用范围 ● 掌握消光、消色及补色法则的概念 ● 掌握正交偏光镜间主要光学性质的观察与测定方法： -光率体椭圆半径方向及名称的测定； -干涉色级序的观察与测定； -消光类型及消光角的测定； -晶体延性符号的测定； -双晶的观察
85-3正交镜下的晶体光学性质正交偏光镜：下偏光+上偏光在正交偏光镜下，不放薄片时，视域黑暗正交偏光镜下观察的内容消光、干涉色、光率体轴名的测定、于涉色级序的测定、消光角及延性符号的测定、双晶的观察等
§5-3 正交镜下的晶体光学性质 ■ 正交偏光镜:下偏光+上偏光 在正交偏光镜下，不放薄片时，视域黑暗。 ■ 正交偏光镜下观察的内容： 消光、干涉色、光率体轴名的测定、干涉色级 序的测定、消光角及延性符号的测定、双晶 的观察等
、正交偏光镜的装置及光学特点上偏光镜下偏光镜
一、正交偏光镜的装置 及光学特点
一、消光现象和消光位消光的概念1.晶体在正交镜下呈现黑暗的现象
一、消光现象和消光位 1. 消光的概念： 晶体在正交镜下呈现黑暗的现象
上偏光镜X食下偏光镜BA矿片在正交偏光镜间的消光现象图50
★全消光：旋转物台360°，视域全黑。均质体和非均质体垂直光轴的切面★四次消光：非均质体（除垂直光轴的切面）呈现四次消光的，一定是非均质体晶体
★ 全消光： 旋转物台360° ，视域全黑。均质体和非均 质体垂直光轴的切面。 ★ 四次消光： 非均质体（除垂直光轴的切面）。 呈现四次消光的，一定是非均质体晶体
3.消光位：★消光位：非均质体在正交偏光镜下处于消光时的位置此时，光率体椭圆半径必定与上、下偏光的振动方向（或目镜十字丝）平行★根据消光位，可确定矿片上光率体椭圆半径的方向。消光位时，目镜十字丝的方向即为矿片上光率体椭圆半径方向
3.消光位： ★消光位: 非均质体在正交偏光镜下处于消光时的位置。 此时，光率体椭圆半径必定与上、下偏光的 振动方向(或目镜十字丝)平行。 ★根据消光位，可确定矿片上光率体椭圆半径的 方向。消光位时，目镜十字丝的方向即为矿片 上光率体椭圆半径方向
二、干涉现象及干涉色级序1．于涉现象：非均质体（除工OA外）任意方向切面不在消光位（即光率体椭圆半径Ki、K,上偏光镜t与上下偏光振动方向斜交）时（如图），下偏光PP进入矿片后，发生双KKG折射，分解为振动方向分别平行光率Kt体椭圆半径的//K,和K,的两种偏光，因Nk手Nk2NkNk2传播速度也矿片不同，K,慢、K,快，二者产生了光程差（R）；K、K,父与上偏光AA斜交，进入上偏光镜再次发生双折射，分解成四条偏光（如下图），其中平行AA的条偏光通过上偏光后发生干涉作蘭下偏光镜
二、干涉现象及干涉色级序 1. 干涉现象： 非均质体(除⊥OA外)任意方向切面， 不在消光位（即光率体椭圆半径K1、K2 与上下偏光振动方向斜交）时（如 图），下偏光PP进入矿片后，发生双 折射，分解为振动方向分别平行光率 体椭圆半径的∥K1和K2的两种偏光，因 NK1 ≠NK2（若NK1＞NK2），传播速度也 不同，K1慢、K2快,二者产生了光程差 （R）；K1、K2又与上偏光AA斜交，进 入上偏光镜再次发生双折射，分解成 四条偏光（如下图），其中平行AA的 两条偏光通过上偏光后发生干涉作 用
透出下偏光镜进人矿片后，上光镜L2KK2K1K进入上偏光镜后矿片.AK21K2P下偏光镜1KIKitA
干涉结果与R有关R=D （Ng-Np)D为薄片厚度当K,和K,与AA、PP成45°位时，矿片最亮
干涉结果与R有关。 R=D（Ng-Np） D为薄片厚度 当K1和K2与AA、PP成45°位时，矿片最亮