如果经检测发现某个硬盘不能完全正常工作,则称这个硬盘是“有缺陷的硬盘”( Defect Hard Disk) 根据维修经验,笔者将硬盘的缺陷分为六大类 ①坏扇区( Bad sector),也称缺陷扇区( Defect sector ②磁道伺服缺陷( Track Servo defect ③磁头组件缺陷( Heads assembly defect) ④系统信息错乱( Service information destruction) ⑤电子线路缺陷( The board of electronics defect ⑥综合性能缺陷( Complex reliability defect 1坏扇区(也称缺陷扇区) 指不能被正常访问或不能被正确读写的扇区。一般表现为:高级格式化后发现有“坏簇( Bad Clusters) 用 SCANDISK等工具检查发现有“B”标记:或用某些检测工具发现有“扇区错误提示”等。 般每个扇区可以记录512字节的数据,如果其中任何一个字节不正常,该扇区就属于缺陷扇区。每 个扇区除了记录512字节的数据外,另外还记录有一些信息:标志信息、校验码、地址信息等,其中任何 部分信息不正常都导致该扇区出现缺陷 多数专业检测软件在检测过程中发现缺陷时,都有类似的错误信息提示,常见的扇区缺陷主要有几种 情况:①校验错误( ECC uncorrectable errors,又称ECC错误)。系统每次在往扇区中写数据的同时, 都根据这些数据经过一定的算法运算生成一个校验码(ECC= Error Correction Code),并将这个校验码记 录在该扇区的信息区内。以后从这个扇区读取数据时,都会同时读取其校检码,并对数据重新运算以检查 结果是否与校检码一致。如果一致,则认为这个扇区正常,存放的数据正确有效:如果不一致,则认为该 扇区出错,这就是校验错误。这是硬盘最主要的缺陷类型。导致这种缺陷的原因主要有:磁盘表面磁介质 损伤、硬盘写功能不正常、校验码的算法差异 ②DNF错误( sector ID not found),即扇区标志出错,造成系统在需要读写时找不到相应的扇区 造成这个错误的原因可能是系统参数错乱,导致内部地址转换错乱,系统找不到指定扇区:也有可能是某 个扇区记录的标志信息出错导致系统无法正确辨别扇区 ③AMNF错误( Address Mark Not Found),即地址信息出错。一般是由于某个扇区记录的地址信息 出错,系统在对它访问时发现其地址信息与系统编排的信息不一致 ④坏块标记错误( Bad block mark)。某些软件或病毒程序可以在部分扇区强行写上坏块标记,让系 统不使用这些扇区。这种情况严格来说不一定是硬盘本身的缺陷,但想清除这些坏块标记却不容易 2.磁道伺服缺陷 现在的硬盘大多采用嵌入式伺服,硬盘中每个正常的物理磁道都嵌入有一段或几段信息作为伺服信息, 以便磁头在寻道时能准确定位及辨别正确编号的物理磁道。如果某个物理磁道的伺服信息受损,该物理磁 道就可能无法被访问。这就是“磁道伺服缺陷”。一般表现为,分区过程非正常中断:格式化过程无法完 成:用检测工具检测时,中途退出或死机,等等 磁头组件缺陷
如果经检测发现某个硬盘不能完全正常工作，则称这个硬盘是“有缺陷的硬盘”（Defect Hard Disk）。 根据维修经验，笔者将硬盘的缺陷分为六大类 ①坏扇区（Bad sector），也称缺陷扇区（Defect sector） ②磁道伺服缺陷（Track Servo defect） ③磁头组件缺陷（Heads assembly defect） ④系统信息错乱（Service information destruction） ⑤电子线路缺陷（The board of electronics defect） ⑥综合性能缺陷（Complex reliability defect） 1.坏扇区（也称缺陷扇区） 指不能被正常访问或不能被正确读写的扇区。一般表现为：高级格式化后发现有“坏簇（Bad Clusters）； 用 SCANDISK 等工具检查发现有“B”标记；或用某些检测工具发现有“扇区错误提示”等。 一般每个扇区可以记录 512 字节的数据，如果其中任何一个字节不正常，该扇区就属于缺陷扇区。每 个扇区除了记录 512 字节的数据外，另外还记录有一些信息：标志信息、校验码、地址信息等，其中任何 一部分信息不正常都导致该扇区出现缺陷。 多数专业检测软件在检测过程中发现缺陷时，都有类似的错误信息提示，常见的扇区缺陷主要有几种 情况：①校验错误（ECC uncorrectable errors，又称 ECC 错误）。系统每次在往扇区中写数据的同时， 都根据这些数据经过一定的算法运算生成一个校验码（ECC=Error Correction Code），并将这个校验码记 录在该扇区的信息区内。以后从这个扇区读取数据时，都会同时读取其校检码，并对数据重新运算以检查 结果是否与校检码一致。如果一致，则认为这个扇区正常，存放的数据正确有效；如果不一致，则认为该 扇区出错，这就是校验错误。这是硬盘最主要的缺陷类型。导致这种缺陷的原因主要有：磁盘表面磁介质 损伤、硬盘写功能不正常、校验码的算法差异。 ②IDNF 错误（sector ID not found），即扇区标志出错，造成系统在需要读写时找不到相应的扇区。 造成这个错误的原因可能是系统参数错乱，导致内部地址转换错乱，系统找不到指定扇区；也有可能是某 个扇区记录的标志信息出错导致系统无法正确辨别扇区。 ③AMNF 错误（Address Mark Not Found），即地址信息出错。一般是由于某个扇区记录的地址信息 出错，系统在对它访问时发现其地址信息与系统编排的信息不一致。 ④坏块标记错误（Bad block mark）。某些软件或病毒程序可以在部分扇区强行写上坏块标记，让系 统不使用这些扇区。这种情况严格来说不一定是硬盘本身的缺陷，但想清除这些坏块标记却不容易。 2.磁道伺服缺陷 现在的硬盘大多采用嵌入式伺服，硬盘中每个正常的物理磁道都嵌入有一段或几段信息作为伺服信息， 以便磁头在寻道时能准确定位及辨别正确编号的物理磁道。如果某个物理磁道的伺服信息受损，该物理磁 道就可能无法被访问。这就是“磁道伺服缺陷”。一般表现为，分区过程非正常中断；格式化过程无法完 成；用检测工具检测时，中途退出或死机，等等。 3.磁头组件缺陷
指硬盘中磁头组件的某部分不正常,造成部分或全部物理磁头无法正常读写的情况。包括磁头磨损 磁头接触面脏、磁头摆臂变形、音圈受损、磁铁移位等。一般表现为通电后,磁头动作发出的声音明显不 正常,硬盘无法被系统B|OS检测到:无法分区格式化:格式化后发现从前到后都分布有大量的坏簇,等 等 4.系统信息错乱 每个硬盘内部都有一个系统保留区( service area),里面分成若干模块保存有许多参数和程序。硬盘 在通电自检时,要调用其中大部分程序和参数。如果能读出那些程序和参数模块,而且校验正常的话, 盘就进入准备状态。如果某些模块读不出或校验不正常,则该硬盘就无法进入准备状态。一般表现为,PC 系统的BoOS无法检测到该硬盘或检测到该硬盘却无法对它进行读写操作。如某些系列硬盘的常见问题 美钻二代系列硬盘通电后,磁头响一声,马达停转: Fujitsu MPG系列在通电后,磁头正常寻道,但BOs 却检测不到:火球系列,系统能正常认出型号,却不能分区格式化: Western Digital的EB、BB系列,能 被系统检测到,却不能分区格式化,等等 5电子线路缺陷 指硬盘的电子线路板中部分线路断路或短路,某些电气元件或C芯片损坏等。有部分可以通过观察线 路板发现缺陷所在,有些则要通过仪器测量后才能确认缺陷部位。一般表现为硬盘在通电后不能正常起转, 或者起转后磁头寻道不正常,等等。 6综合性能缺陷 有些硬盘在使用过程中部分芯片特性改变:或者有些硬盘受震动后物理结构产生微小变化(如马达主 轴受损):或者有些硬盘在设计上存在缺陷……最终导致硬盘稳定性差,或部分性能达不到标准要求。 般表现为,工作时噪音明显增大:读写速度明显太慢:同一系列的硬盘大量出现类似故障:某种故障时有 时无等等
指硬盘中磁头组件的某部分不正常，造成部分或全部物理磁头无法正常读写的情况。包括磁头磨损、 磁头接触面脏、磁头摆臂变形、音圈受损、磁铁移位等。一般表现为通电后，磁头动作发出的声音明显不 正常，硬盘无法被系统 BIOS 检测到；无法分区格式化；格式化后发现从前到后都分布有大量的坏簇，等 等。 4.系统信息错乱 每个硬盘内部都有一个系统保留区（service area），里面分成若干模块保存有许多参数和程序。硬盘 在通电自检时，要调用其中大部分程序和参数。如果能读出那些程序和参数模块，而且校验正常的话，硬 盘就进入准备状态。如果某些模块读不出或校验不正常，则该硬盘就无法进入准备状态。一般表现为，PC 系统的 BIOS 无法检测到该硬盘或检测到该硬盘却无法对它进行读写操作。如某些系列硬盘的常见问题： 美钻二代系列硬盘通电后，磁头响一声，马达停转；Fujitsu MPG 系列在通电后，磁头正常寻道，但 BIOS 却检测不到；火球系列，系统能正常认出型号，却不能分区格式化；Western Digital 的 EB、BB 系列，能 被系统检测到，却不能分区格式化，等等。 5.电子线路缺陷 指硬盘的电子线路板中部分线路断路或短路，某些电气元件或 IC 芯片损坏等。有部分可以通过观察线 路板发现缺陷所在，有些则要通过仪器测量后才能确认缺陷部位。一般表现为硬盘在通电后不能正常起转， 或者起转后磁头寻道不正常，等等。 6.综合性能缺陷 有些硬盘在使用过程中部分芯片特性改变；或者有些硬盘受震动后物理结构产生微小变化（如马达主 轴受损）；或者有些硬盘在设计上存在缺陷……最终导致硬盘稳定性差，或部分性能达不到标准要求。一 般表现为，工作时噪音明显增大；读写速度明显太慢；同一系列的硬盘大量出现类似故障；某种故障时有 时无等等