实验利用单靶射频磁控溅射技术，在单晶硅基底上，制备了两个系列FeCrVTa0.4W0.4高熵合金氮化物薄膜，即FeCrVTa0.4W0.4氮化物成分梯度多层薄膜和(FeCrVTa0.4W0.4)Nx单层薄膜，其中，多层薄膜用于太阳光谱选择性吸收薄膜.通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、纳米力学探针、原子力显微镜(AFM)、紫外−可见分光光度计、接触角测量仪和四探针测试台对FeCrVTa0.4W0.4高熵合金氮化物薄膜进行微观结构分析以及性能表征

10.1物质对光的选择性吸收和吸收定律 10.2分光光度计 10.3显色反应及影响因素 10.4光度分析法的设计及误差控制 10.5常用的吸光光度法 10.6吸光光度法的应用

第一节 紫外可见分光光度法的基本原理和概念 第二节 紫外-可见分光光度计

第一节 基本原理 第二节 原子吸收分光光度计 第三节 实验方法

15.5 吸光度测量条件的选择 15.4 显色反应和显色条件的选择 15.3 分光光度计 15.2 光吸收定律 15.1 概述 15.6 吸光光度光法的应用

第一节 光学分析概论 一、电磁辐射和电磁波谱 二、光学分析法及其分类 三、光谱法仪器——分光光度计 第二节 紫外-可见吸收光谱 一、紫外-可见吸收光谱的产生 二、紫外-可见吸收光谱的电子跃迁类型 三、相关的基本概念 四、吸收带类型和影响因素

第一节 概述 第二节 原子吸收光谱的原理 第三节 原子吸收分光光度计

一、概述 generalization 二、基本原理 basic theory 三、原子荧光光度计 atomic fluorescence spectrometry

一、仪器类型与流程 types and process of AES 二、火焰光度计 flame spectrometer 三、光谱仪 spectrophotometer 四、电弧和电火花发射光谱仪 arc and electric spark emission spectrometer

一、1575年，西班牙医生N.Monardes发现。 二、 1852年，Sir George Stokes对荧光产生的机理作了解释，并提出了“荧光”。 三、 1867年，首次用于分析测定。 四、1928年，Jette和West提出第一台光电荧光计。 五、1952年，商品荧光分光光度计出现