超精密光学元件是决定高端装备性能的核心元件，在大科学装置、精密仪器等领域中被广泛应用。对光学元件进行高精度检测是保证元件质量的重要途径。光学检测技术因具有非破坏性、高精度而成为光学元件检测的有效技术。首先，对超精密光学元件主要检测技术进行了综述，重点介绍技术原理、研究现状和应用瓶颈；其次，针对光学检测技术中的相位解调问题，以波长移相测量技术为例，结合超精密平面光学元件检测，概述了相位解调算法的原理与实现过程，并对其性能进行综合评估；最后，展望光学元件检测技术的未来发展趋势

一、概念 基于光波的衍射理论，运用计算机辅助设计， 并运用超大规模集成电路制作工艺，在片基上刻蚀 产生两个或多个台阶深度的浮雕结构，形成纯相位、 同轴再现、具有极高衍射效率的一类衍射光学元件。 随之形成的一门新的学科分支，称二元光学

17.1光源相千光 一、光和光波的波动方程 光是一种电磁波

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1.平面透射光栅光强公式 2.多缝衍射光栅光强分布 3.光栅的三个参量

《毕业设计》课程教学大纲 《单片机原理及应用》课程教学大纲 《单片机原理及应用课程设计》课程教学大纲 《辐射测温学》课程教学大纲 《光电测试技术》课程教学大纲 《光电仪器设计》课程教学大纲 《光机电一体化设计与设备》课程教学大纲 《光谱技术与仪器》课程教学大纲 《光纤通讯技术》课程教学大纲 《光学加工与检测技术》课程教学大纲 《光学系统设计》课程教学大纲 《红外与微光技术》课程教学大纲 《激光原理与技术》课程教学大纲 《精密测控电路与驱动技术》课程教学大纲 《企业专家讲座》课程教学大纲 《生产实习》课程教学大纲 《视觉检测技术》（双语）课程教学大纲 《数字图像处理》课程教学大纲 《数字信号处理》（双语）课程教学大纲 《微光机电系统概论》（双语）课程教学大纲 《物理光学》课程教学大纲 《误差理论与不确定度分析》课程教学大纲 《显示技术》课程教学大纲 《信号与系统Ⅱ》课程教学大纲 《信息光学》课程教学大纲 《应用光学》课程教学大纲 《专业导论课》课程教学大纲 《专业综合实践》课程教学大纲

本章将介绍光时分复用、波分复用、光频分复用、光码分复用和光副载波复用等常用的几种光复用技术。 8.1 光复用技术的基本概念 8.2 光时分复用技术 8.3 密集波分复用技术 8.4 密集波分复用系统的非线性串扰

一、 一块边长为 97.6mm 的方孔口径的光 栅，其每个透光狭缝宽度 a=0.244 ,光栅周期 d=0.976 。光栅放在一焦距 =97.6cm 的会聚 透镜的前面，透镜口径比光栅口径大。用波 长 =0.488 的单色平行光束垂直照射该光 栅，光束充满该光栅口径。试解下列问题：

1.熟悉光发送的电光变换原理。 2.测量并分析模拟光发端机和数字光发端机的波形及数据。 3.了解模拟光发端机和数字光发端机的区别。 4.观察并分析输出功率和注入电流的关系及光源的非线形失真

一、旋光现象 1、旋光现象偏振光通过某些物质后,其振动面将以光的传播方向为轴线转过一定的角度 2、旋光物质能产生旋光现象的物质.(如石英晶体、糖溶液、酒石酸溶液等)