VLSI集成电路设计文库下载_中国高校课件下载中心

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 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

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一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准二、SoC测试生成

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电子科技大学：《模拟集成电路分析与设计 Analysis and Design of Analog Integrated Circuit》课程教学资源（教学大纲，负责人：罗萍）

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 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

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--- Single-transistor amplifiers --- Source followers --- Cascode

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电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章概述——研究意义（王忆文）

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中国地质大学（武汉）：《数字逻辑实验》课程教学资源（实验内容）实验四集成电路测试及研究（设计性）

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复旦大学：《集成电路工程》教学资源（硕士士学位论文）基准源和温度检测模块设计

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复旦大学：《集成电路工程》教学资源（硕士士学位论文）基准电压源和线性稳压器的设计