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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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 理解BIST(Built-in Self-Test)的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构
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上海交通大学:《集成电路工艺原理》课程教学资源_Basic Properties of Silicon Crystals
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简差分放大器具有抑制零点漂移的作用,广泛用于集成电路明的输入级,是另一类基本放大器
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
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北京大学:《集成电路原理与设计 Principle of Integrated Circuits》课程教学资源(考试试卷)数字集成电路原理与设计
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中国地质大学(武汉):《数字逻辑实验》课程教学资源(实验内容)实验四 集成电路测试及研究(设计性)
文档格式:PDF 文档大小:2.58MB 文档页数:42
北京大学:《集成电路原理与设计 Principle of Integrated Circuits》课程电子教案(数字集成电路原理与设计)chap5-2 第五章 数字集成电路基本模块 5.2 加法器
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北京大学:《集成电路原理与设计 Principle of Integrated Circuits》课程电子教案(数字集成电路原理与设计)课堂讨论4
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