1.1 要点扫描 1.1.1 晶体材料的结合键 1.1.2 空间点阵和晶胞 1.1.3 常见纯金属（FCC、BCC、HCP）的晶体结构 1.1.4 晶面指数和晶向指数及其标注 1.1.5 标准投影 1.1.6 倒易点阵和晶体学公式 1.1.7 合金相结构 1.1.8 离子晶体结构 1.1.9 共价晶体结构 1.2 难点释疑 1.2.1 7 大晶系包含的点阵类型为什么不是 28 种，而是 14 种？ 1.2.2 为什么没有底心正方和面心正方点阵？ 1.2.3 确定晶面指数时应注意哪些问题？ 1.2.4 立方晶系中重要晶面上的晶体排列及面密度 1.2.5 立方晶系中重要方向上的晶体排列及线密度 1.3 解题示范 1.4 习题训练

2.1 要点扫描 2.1.1 点缺陷及其平衡浓度 2.1.2 位错的基本类型及柏氏矢量 2.1.3 位错的应力场 2.1.4 位错的弹性能和线张力 2.1.5 作用在位错上的力和 Peach-Koehler 公式 2.1.6 位错间的交互作用 2.1.7 位错的起动力——Peirls-Nabarro 力 2.1.8 FCC 晶体中的位错 2.1.9 位错反应 2.1.10 HCP、BCC 及其他晶体中的位错 2.1.11 晶体中的界面与表面 2.1.12 位错的观察及位错理论的应用 2.2 难点释疑 2.2.1 柏氏矢量的守恒性 2.3 解题示范 2.4 习题训练

 电极反应过程的基本知识  经典极谱法的原理  单扫描示波极谱法原理  脉冲极谱法原理  极谱催化波和配合物吸附波  循环伏安法  溶出伏安法

6.1概述 雷达工作原理,干扰的引入(有源干扰,无源干扰,隐身技术) 一.干扰作用与分类 1.作用:降低SN造成的检测困难 2.分类:f,,A,,f,A,。 (1)瞄准式干扰≈,,△f;=(2~5)△f,能量集中。 (2)阻塞式干扰△f>5△f宽带干扰。 (3)扫频式干扰△f,=(2~5)△f,f=f,(t),宽带集中,能量分时

在实际中,由于滤波器部件调试不理想或信道特性的变化等因素,都可能使 H(ω)特性改变,从而使系统性能恶化。在码间串扰和噪声同时存在的情况下系 统性能的定量分析更是难以进行,因此在实际应用中需要用简便的实验方法来定 性测量系统的性能,其中一个有效的实验方法是观察接收信号的眼图 观察眼图的方法是:用一个示波器跨接在接收滤波器的输出端,然后调整示 波器水平扫描周期,使其与接收码元的周期同步.此时可以从示波器显示的图形 上,观察出码间干扰和噪声的影响,从而估计系统性能的优劣程度

表面与界面化学虽是物理化学的传 统研究领域,但由于电子能谱、扫描隧 道显微镜等新的实验技术的出现,使得 表面、界面效应及粒子尺寸效应的知识 呈指数上升式的积累,提出了在分子水 平上进行基础研究的要求。当前涉及这 领域的研究已成为催化、电化学、胶 体化学的前沿课题,并与生命科学、材 料科学、环境科学、膜技术及医药学密 切相关,是这些相关学科要研究和解决 的核心课题之一

了解CASS老版本的用户都知道,CASS对已有图纸输入的方法有两种, 分别是用数字化仪录入和通过扫描仪录入图纸再进行屏幕数字化。随着南方系 列软件的不断完善,用扫描仪对已有白纸图扫描之后,CASS5.0可以直接进行 数字化

第一阶段:传统的光学装置及仪器,不能胜任对 复杂光信息高速采集和处理的要求 第二阶段:半导体集成电路技术,可以将探测器 件及电路集成在一个整体中,也可以将具有多个 检测功能的探测器件集成在一个整体中。其价格 低,体积小。例如,将图形、物体等具有二维分 布的光学图像转换成电信号的检测器件是把基本 的光电探测器件组成许多网状阵列结构,引人注 目的器件CCD就是一种将阵列化的光电探测与扫 描功能一体化的固态图像检测器件。它是把一维 或二维的光学图像转换成时序电信号的器件,能 广泛引用于自动检测、自动控制,尤其是图像识 别技术

操作系统安全性 一、 Windows NT/2000 二、unX 三、其他操作系统 四、操作系统漏洞 五、操作系统入侵检测 六、系统安全扫描软件

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