学习目标：在学习角度测量基本概念的基础上，明确经纬仪的结构原理，掌握经纬仪应用的基本方法，掌握水平角、竖直角测量基本技术。 第一节 角度测量的概念 第二节 光学经纬仪 第三节 光学经纬仪基本操作 第四节 水平角观测技术方法 第五节 竖直角观测技术方法 第六节 角度测量误差与预防 第七节 光电经纬仪

第一节光学经纬仪的构造与使用方法 光学经纬仪的种类按精度系列可分 为DJ07、DJ1、DJ6、DJ15和DJ60等六 个级别,其中D”、“分别为“大地测量 ”和“经纬仪”的汉语拼音的第一个字母, 下标数字表示仪器的精度,即一测回水 平方向中误差的秒数

T采用双平行玻璃板光学测微器,当光线不垂直于双平 玻璃板,光线产生的平移量Δ。利用测微螺旋使双平行 璃板作相向运动,直至重合(即对径分划线重合),分 线的移动量为对径分划线之间角距的一半,这个量可由 微器分划盘上上读取,正确的量应为两次读数之和

3.5.1光学测微器隙动差 一、隙动差一按不同方向旋转测微器使对径分划重合时的读数之差,d=a-b。若在不同部位测n次,则d=1/n∑(a-b)

一、实习目的使学生掌握J2光学经纬仪安置、读数的方法。 仪器设备:每组J2光学经纬仪1台、测钎2个、记录板1个

由精密光学器件、机械器件、电子扫描度盘、电子传感器和微处理机等组成,用光电测角代替了光学测角

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3．1 杨氏干涉仪和空间相干性 3．2 非相干像的形成 3．3 MTF的测量 3．4 非相干空间滤波 3．5 迈克耳孙干涉仪和时间相干性 3．6 傅里叶变换光谱仪 3．7 投影显示的消像素技术 3．8 计算层析技术 3．9 结论

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

实验一 用立式光学计测量塞规 实验二 用内径千分表或卧式长仪测量内径 实验三 表面粗糙度测量 实验四 用合象水平仪或框式水平仪