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采用伪半固态触变成形工艺制备了40%、56%和63%三种不同SiC体积分数颗粒增强Al基电子封装材料,并借助光学显微镜和扫描电镜分析了材料中Al和SiC的形态分布及其断口形貌,测定了材料的密度、致密度、热导率、热膨胀系数、抗压强度和抗弯强度.结果表明,通过伪半固态触变成形工艺可制备出的不同SiC体积分数Al基电子封装材料,其致密度高,热膨胀系数可控,材料中Al基体相互连接构成网状,SiC颗粒均匀镶嵌分布于Al基体中.随着SiC颗粒体积分数的增加,电子封装材料密度和室温下的热导率稍有增加,热膨胀系数逐渐减小,室温下的抗压强度和抗弯强度逐渐增加.SiC/Al电子封装材料的断裂方式为SiC的脆性断裂,同时伴随着Al基体的韧性断裂
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6.1 自激振荡原理 6.2 RC振荡器 6.3 LC振荡器
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9.1 TTL与非门 9.2 其它集成门电路简介 9.3 CMOS门电路
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第8章数字电路基础知识 8.1数制和编码 8.2逻辑代数
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高职系列教材:《电视技术》课程电子教案(PPT教学课件)封面及目录
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数字电路CAD工具(较成熟,自动化程度高): FPGA Gate Array Standardsell VHDL 系统综合
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第 I 族、第 II 族元素及过渡元素都是典型的金属晶体, 它们的最外层电子一般为 1~2 个。组成晶体时每个原子 的最外层电子为所有原子所共有,因此在结合成金属晶 体时,失去了最外层(价)电子的原子实“沉浸”在由 价电子组成的“电子云”中。如图 XCH002_004 所示。 这种情况下,电子云和原子实之间存在库仑作用,体积 越小电子云密度越高,库仑相互作用的能愈低,表现为 原子聚合起来的作用
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第六章碳碳重键的加成反应(Addition to Carbon- Carbon Multiple Bonds) 试剂进攻碳碳重键的途径 一、亲电加成反应 (一).亲电加成反应(Electrophilic Addition) 1.正碳离子机理 2.翁型离子机理 3.三分子加成机理 4.炔烃的亲电加成 二.亲电加成反应活性(Reactivity) 1.底物 2.试剂
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4.1反馈的基本概念 4.2 四种负反馈电路举例 4.3 负反馈对放大器性能的影响 4.4 深度负反馈电路电压放大倍数的估算
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