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超精密光学元件是决定高端装备性能的核心元件，在大科学装置、精密仪器等领域中被广泛应用。对光学元件进行高精度检测是保证元件质量的重要途径。光学检测技术因具有非破坏性、高精度而成为光学元件检测的有效技术。首先，对超精密光学元件主要检测技术进行了综述，重点介绍技术原理、研究现状和应用瓶颈；其次，针对光学检测技术中的相位解调问题，以波长移相测量技术为例，结合超精密平面光学元件检测，概述了相位解调算法的原理与实现过程，并对其性能进行综合评估；最后，展望光学元件检测技术的未来发展趋势

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4.2.1 超材料概况 4.2.2 基于广义snell定律的相位调控 4.2.3 偏振调控 4.2.4 介质超构表面 4.2.5 基于超构表面的光学非线性

围绕光是横波这一事实,研究光在各向异性介质中的传播规律和应用