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2.1 概述 2.2 温度检测与变送 2.3 压力检测与变送 2.4 流量检测与变送 2.5 物位检测与变送 2.6 智能检测仪表 2.7 检测系统数据处理方法 2.8 软测量与先进检测的应用
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1.1 什么是过程控制 1.2 过程控制性能要求 1.2.1 时域控制性能指标 1.2.2 积分控制性能指标 1.3 过程控制系统的组成 1.4 过程控制系统的发展概况 1.4.1 过程控制系统体系结构的发展 1.4.2 过程控制检测仪表和执行机构的发展 1.4.3 过程控制策略的发展
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10.1 音频故障维修【重点】 10.2 网络故障维修 10.3 键盘故障维修 10.4 鼠标故障维修 10.5 机箱故障维修 10.6 BIOS故障维修【重点】
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5.1 主板技术规格与结构 5.2 主板基本组成【重点】 5.3 主板芯片组技术 5.4 主板基本电路【重点】 5.5 主板总线与接口 5.6 主板故障分析与处理
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9.1 ATX电源组成与设计规范 9.2 ATX电源电路结构 9.3 电源主要技术性能 【重点】 9.4 电源故障分析与处理
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3.1 微机故障的特点 3.2 微机启动过程分析【重点】 3.3 死机故障分析【重点】 3.4 运行速度降低故障分析 3.5 随机性故障分析 3.6 开关机故障分析
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一、数字滤波器的基本概念 二、最小与最大相位延时系统、最小与最大相位超前系统 三、全通系统 四、用模拟滤波器设计IIR数字滤波器 五、冲激响应不变法 六、阶跃响应不变法 七、双线性变换法 八、常用模拟低通滤波器特性 九、设计IIR滤波器的频率变换法 十、模拟域频带变换法 十一、数字域频带变换法
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1.1实时数字信号处理技术的发展 1.2数字信号处理器的特点 1.3德州仪器公司的DSP产品 1.4DSP芯片的选择 1.5DSP应用系统设计流程
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本章详细介绍TMS320C55x的硬件结构,包括C55x处理器的CPU体系结构、指令流水线、存储空间结构及TMS320VC5509A的主要特性等。 2.1 TMS320C55xDSP的基本结构 2.2 TMS320VC5509A的主要特性 2.3 TMS320C55x存储空间结构
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3.1 寻址方式 TMS320C55x的指令系统 3.1.1 绝对寻址模式 3.1.2 直接寻址模式 3.1.3 间接寻址模式 3.2 TMS320C55x的指令系统 3.2.1 C55x指令的并行执行 3.2.2 TMS320C55xDSP的汇编指令
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