2.1 概述 2.2 温度检测与变送 2.3 压力检测与变送 2.4 流量检测与变送 2.5 物位检测与变送 2.6 智能检测仪表 2.7 检测系统数据处理方法 2.8 软测量与先进检测的应用

1.1 什么是过程控制 1.2 过程控制性能要求 1.2.1 时域控制性能指标 1.2.2 积分控制性能指标 1.3 过程控制系统的组成 1.4 过程控制系统的发展概况 1.4.1 过程控制系统体系结构的发展 1.4.2 过程控制检测仪表和执行机构的发展 1.4.3 过程控制策略的发展

10.1 音频故障维修【重点】 10.2 网络故障维修 10.3 键盘故障维修 10.4 鼠标故障维修 10.5 机箱故障维修 10.6 BIOS故障维修【重点】

5.1 主板技术规格与结构 5.2 主板基本组成【重点】 5.3 主板芯片组技术 5.4 主板基本电路【重点】 5.5 主板总线与接口 5.6 主板故障分析与处理

9.1 ATX电源组成与设计规范 9.2 ATX电源电路结构 9.3 电源主要技术性能 【重点】 9.4 电源故障分析与处理

3.1 微机故障的特点 3.2 微机启动过程分析【重点】 3.3 死机故障分析【重点】 3.4 运行速度降低故障分析 3.5 随机性故障分析 3.6 开关机故障分析

一、数字滤波器的基本概念 二、最小与最大相位延时系统、最小与最大相位超前系统 三、全通系统 四、用模拟滤波器设计IIR数字滤波器 五、冲激响应不变法 六、阶跃响应不变法 七、双线性变换法 八、常用模拟低通滤波器特性 九、设计IIR滤波器的频率变换法 十、模拟域频带变换法 十一、数字域频带变换法

1.1实时数字信号处理技术的发展 1.2数字信号处理器的特点 1.3德州仪器公司的DSP产品 1.4DSP芯片的选择 1.5DSP应用系统设计流程

本章详细介绍TMS320C55x的硬件结构，包括C55x处理器的CPU体系结构、指令流水线、存储空间结构及TMS320VC5509A的主要特性等。 2.1 TMS320C55xDSP的基本结构 2.2 TMS320VC5509A的主要特性 2.3 TMS320C55x存储空间结构

3.1 寻址方式 TMS320C55x的指令系统 3.1.1 绝对寻址模式 3.1.2 直接寻址模式 3.1.3 间接寻址模式 3.2 TMS320C55x的指令系统 3.2.1 C55x指令的并行执行 3.2.2 TMS320C55xDSP的汇编指令