第一节 半导体器件 § 2.1.1 半导体的基本知识 § 2.1.2 PN 结及半导体二极管 § 2.1.3 半导体三极管 第二节 基本放大电路 §2.2.1 放大电路的组成 §2.2.2 放大电路的分析方法 §2.2.3 静态工作点的稳定 §2.2.4 放大器的主要性能指标 §2.2.5 多级阻容耦合放大电路

一、放大的概念与放大电路的性能指标 二、基本共射放大电路的组成及各元件的作用 三、设置静态工作点的必要性 四、基本共射放大电路的工作原理 五、放大电路的组成原则

7.1 反馈的基本概念与分类 7.2 负反馈放大电路增益的一般表达式 7.3 负反馈对放大电路性能的改善 7.4 深度负反馈条件下的近似计算 7.7 负反馈放大电路的稳定问题 7.5 负反馈放大电路的设计 7.6 负反馈放大电路的频率响应

4.1 半导体三极管（BJT） 4.2 基本共射极放大电路 4.3 放大电路的分析方法 4.4 放大电路的静态工作点稳定问题 4.5 共集电极电路和共基极电路 4.6 组合放大电路 4.7 放大电路的频率响应

采用放电等离子烧结(SPS)工艺制备了Mg2-xNdxNi(x=0,0.1,0.2,0.3)储氢合金.通过X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)研究了合金的相结构和表面形貌,利用等容压差法分析测试了合金的压力-组成-温度(PCT)曲线和吸放氢动力学性能,研究了烧结温度、稀土元素Nd对储氢合金微观组织结构和储氢性能的影响,比较了SPS技术与真空感应熔炼法制备的Mg基合金组织结构和储氢性能的异同.结果表明:SPS制备的Mg2-xNdxNi(x=0~0.3)系列储氢合金具有多相结构,储氢合金的吸放氢动力学性能良好;Nd元素有利于Mg合金化,不利于储氢量;烧结温度对储氢量、PCT曲线平台性能有明显影响;当Mg2-xNdxNi系合金中含有Mg和NdMg12相,PCT曲线出现双平台现象;与铸态合金相比,SPS制备的Mg1.7Nd0.3Ni储氢合金的吸放氢动力学性能较好,但储氢容量、放氢率和PCT曲线平台性能更差

采用液相脉冲放电技术,通过改变脉冲电压、放电次数、Ni2+浓度、pH值,以及加入稀土添加剂(LaCl3、NdCl3)等途径,研究了制备工艺中各因素对Ni-P合金粉的结构、形貌、粒径以及对Ni2+转化率的影响.结果表明,脉冲能量是影响Ni-P合金粉粒径和Ni2+转化率的主要因素,提高脉冲电压或增加放电次数,Ni-P合金粉平均粒径明显减小,而Ni2+转化率增大.聚焦光束反射测量仪(FBRM)实时监测结果表明,在放电过程中Ni-P合金粉的形核、生长速率显著大于放电结束之后的形核、生长速率.加入LaCl3、NdCl3能使Ni-P合金粉粒径减小,LaCl3质量浓度为0.1g·L·时制得的Ni-P合金粉平均粒径为156nm,NdCl3质量浓度为0.05g·L-1时其平均粒径为72nm

2.1 概述 2.2 晶体管放大电路的组成及其工作原理 2.3 图解分析法 2.4 微变等效电路分析法 2.8 场效应管放大电路 2.6 共集电极放大电路 2.5 分压式偏置稳定共射放大电路 2.7 共基极放大电路

根据实际操作结果,指出了电算模拟放矿Jolley模型本身的严重缺陷,证明了其直接计算结果无论在数值上还是放出体的形体上都无法与实际放矿过程相似,所谓的相似特征值q制约不了Jolley模型的相似过程.本文借助放出期望体理论的推证方法和结果,提出了Jolley模型数值相似的方法,经投入运算,证明该方法是简单、准确和可行的

§6.1 反馈的概念及判断 §6.2 负反馈放大电路的方框图及放大倍数的估算 §6.3 交流负反馈对放大电路性能的影响 §6.4 负反馈放大电路的稳定性 §6.5 放大电路中反馈的其它问题

第二章基本放大电路 2.1概论 2.2放大电路的组成和工作原理 2.3放大电路的分析方法 2.4静态工作点的稳定 2.5射极输出器 2.6场效应管放大电路 2.7多级阻容耦合多级放大电路