1. 红外光谱技术回顾 1．1 红外光谱技术的发展 1．2 红外光谱的原理 1．3 红外光谱实验技术 1．4 红外光谱解决的问题 2．红外光谱技术的一些最新进展 2．1红外反射技术 2．1．1镜面反射（30o） 2．1．2 掠角反射 2．1．3漫反射 2．1．4偏振红外光谱法 2．1．5衰减全内反射 2．1．6衰减部分内反射 2．1．7表面增强等离子体衰减全内反射技术 2．2 红外光声光谱技术 2．2．1光声光谱的产生 2．2．2光声光谱的原理 2．2．3光声光谱的应用 2．3 红外显微成像技术 2．3．1单点显微红外光谱技术 2．3．2单点显微红外成像 2．3．3焦平面阵列检测显微成像 2．3．4线阵列式成像技术 2．3．5红外显微成像技术的应用 2．4一些特殊的红外光谱技术 2．4．1时间分辨红外光谱技术 2．4．2二维红外相关谱技术 3．近红外和远红外光谱 3．1 近红外光谱 3．1．1近红外光谱分析技术概述及发展历程 3．1．2现代近红外光谱的工作过程 3．1．3 近红外光谱仪器 3．2远红外光谱 3．2．1 简介 3．2．2远红外仪器的特点 3．2．3影响远红外光谱的因素 3．2．4远红外光谱的应用 4．喇曼光谱 4．1喇曼光 4．2喇曼光谱的原理 4．3喇曼光谱实验技术 4．4喇曼光谱的应用

一、单选题(每题1分,共16分) ()1.在一个图中,所有顶点的度数之和等于图的边数的倍。 A.1/2 B.1 C.2 D.4 ()2.在一个有向图中,所有顶点的入度之和等于所有顶点的出度之和的倍。 A.1/2 B.1 C.2 D.4

McCrum Prob. 1. 1 Define precision and atomic weights > Digits:=4:H:=1:C:=12: unprotect(0):0:=16:F:=19:c1:=35.5: Calculate relative molar masses(RMM) (1) polybutene >\RMM\=1000*(C+日*2+C+日+(C*2+H*5)); 尺MM=56000

1-1 静力学基本概念 1-2 静力学基本公理 1-3 约束与约束反力 1-4 物体的受力分析和受力图

1-1 自动控制的任务 1-２自动控制的基本方式 1-３对控制系统的性能要求

Problem set 1 Micro Theory S. Wang Question1.1. Show that“f(X)=f(x),Vx∈R,A>1” implies“f(A)= Af(x),Vx∈R,A>0.” estion 1.2. Use a Lagrange function to solve c(w1, w2, y) for the following problem

一、元器件、设备 直流稳压电源(0~30V)1个插件板2块 导线18条(长14)连接片10个 数字万用表DM-441B1台 一号千电池2个电阻100、200Ω、 150Ω、300Ω、390Ω、510Ω各1个 电流源模块1个电阻箱1个(ZX36型)

（一）选择题： 1． 如图，S1、S2 是两个相干光源，它门到 P 点的距离分别为 r1 和 r2，路径 S1P 垂直穿过一块厚度为 t2 ，折射率为 n1 的介质板，路径 S2， P 垂直穿过厚度为 t2 折射率为 n2 的另一介质板， 其余部分可看作真空，这两条路径的光程差等于

1.证明下列不等式 (1)|x-y2|x- (2)+x+…x1sx+x+…+x: (3)|x1+x2+…xn+x|2|x|-(|x1|+|x21|+…+|xn1)

第七章无穷级数 1常数项级数概念及性质 ∞ 1、定义P264an=a1+a2+…+an+… n=1 an称为一般项或通项Sn=u1+u2+…+un称为前n项部分和