① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

2.1 设计、验证和测试 2.2 缺陷、失效和故障 2.3 故障及故障检测 2.5 故障的等效/支配/冗余

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——研究意义（王忆文）

电子科技大学：《DSP算法实现技术与架构 VLSI Digital Signal Processing Systems Design and Implementation》课程教学资源（课件讲稿）Chapter 15 数字强度缩减 Numerical Strength Reduction

14.1 Redundant and non redundant 14.2 Redundant number representations 14.3 Carry-free Radix-2 Addition and subtraction

9.1 Introduction 9.2 Parallel FIR filters 9.3 DCT and IDCT

8.1 Introduction 8.2 Cook-Toom algorithm 8.3 Winograd algorithm 8.4 Iterated convolution

电子科技大学：《DSP算法实现技术与架构 VLSI Digital Signal Processing Systems Design and Implementation》课程教学资源（课件讲稿）Chapter 07 脉动阵列 Systolic Architecture