• 基本概念 • 均匀加宽 自然加宽 碰撞加宽 晶格振动加宽 • 非均匀加宽 多普勒加宽 晶格缺陷加宽

一、实验目的 1．掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。 2．学会CMOS集成门电路主要参数的测试方法

1.1用真值表证明下列恒等式 (1)⊕B=A⊙B=AB1 (2)A(B⊕C)=AB⊕AC (3)(A+B)(A+C)(B+C)=(a+B)(a+C)

一、实验目的 1．掌握中规模集成译码器、数据选择器的逻辑功能和使用方法。 2．了解译码器的应用。 3．学习用数据选择器构成组合逻辑电路的方法

一、实验目的 1．掌握中规模 4 位双向移位寄存器逻辑功能及使用方法。 2．熟悉移位寄存器的应用：实现数据的串行、并行转换和构成环形计数器

一、实验目的 1．熟悉 555 型集成时基电路结构、工作原理及其特点。 2．掌握 555 型集成时基电路的基本应用

一、填空题 （每题 1． 5 分，共 30 分 ） 1．（27）10＝（ ）2 ＝（ ）8421BCD 2.（11001）2 ＝（ ）10 3．逻辑函数 Y= A+B+ C D 的反函数 Y = ，对偶式 Y ′ ＝

一、实验目的 1．掌握基本 RS 触发器、 JK 触发器、 D 触发器和T 触发器的逻辑功能。 2．熟悉各类触发器之间逻辑功能的相互转换方法

一、实验目的 1．学会组合逻辑电路的实验分析及其设计方法。 2．验证半加器、全加器的逻辑功能

一、实验目的 1．熟悉中规模集成电路计数器的功能及应用。 2．进一步熟悉数字逻辑实验箱中的译码显示功能