实验一 门电路逻辑功能及测试 实验二 组合逻辑电路 实验三 译码器和数据选择器 实验四 触发器 实验五 时序电路测试及研究 实验六 计数译码显示电路的设计 实验七 555时基电路的应用 实验八 数字电子秒表

 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）

一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

四川大学：测试技术与控制工程系课程教学资源《电路仿真与PCB设计》教学大纲 Circuit simulate and PCB design

四川大学：测试技术与控制工程系课程教学资源《测控电路》教学大纲 Measurement and Control Circuit

1.学习如何设置放大电路静态工作点及其调试方法。 2.掌握放大电路的静态测试和动态测试的方法。 3.研究静态工作点对动态性能的影响。 4.掌握低频信号发生器、晶体管毫伏表、电子示波器等常用电子仪器的正确使用方法

实验一：集成逻辑门电路的测试与使用 实验二：组合逻辑电路的设计 实验三：时序逻辑电路的设计 实验四：脉冲信号的产生与变换 实验五：A/D 和 D/A 转换器及其应用 实验六：序列信号发生器的设计（设计性）

一、光电信号检测电路 １.恒流源型光电检测器