材料现代分析方法试题库一、填空1、第一个发现X射线的科学家是，第一个进行X射线衍射实验的科学家是，其波长为2、X射线的本质是性，又具有3、X射线本质上是一种，它既具有性，X射线衍射分析是利用了它的和有关。4、特征X射线的波长与无关。而与5、X射线一方面具有波动性，表现为具有一定的，另一方面又具有粒子性，体现为具有一定的二者之间的关系为与其的关系。6、莫塞来定律反映了材料产生的和7、从X射线管射出的X射线谱通常包括和8、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类X射线，它们是，其中在X射线粉末衍射中采用的是9、特征X射线是由元素原子中引起的，因此各元素都有特定的和定律。电压，特征谱与原子序数之间服从；能量从小10、同一元素的入Kal、入Kg2、入KB的相对大小依次为到大的顺序是。（注：用不等式标出）11、X射线通过物质时，部分X射线将改变它们前进的方向，即发生散射现象。和X射线的散射包括两种：12、hu+ky+h=0关系式称为,若晶面(hkl)和晶向[uvw]满足该关系式，表明15、倒易点阵是由晶体点阵按照[1(i = ])af-a, =10%*)）式中，“为倒易点阵基矢，为正点阵基失的对应关系建立的空间点阵。在这个倒易点阵中，倒易失量的坐标表达式为，其基本性质为
材料现代分析方法试题库 一、填空 1、第一个发现 X 射线的科学家是 ，第一个进行 X 射线衍射实验的科学 家是 。 2、X 射线的本质是 ，其波长为 。 3、X 射线本质上是一种_，它既具有_性，又具有 _性，X 射线衍射分析是利用了它的_ _。 4、特征 X 射线的波长与 和 无关。而与 有关。 5、X 射线一方面具有波动性，表现为具有一定的 ，另一方面又具有粒子 性，体现为具有一定的 ，二者之间的关系为 。 6、莫塞来定律反映了材料产生的 与其 的关系。 7、从 X 射线管射出的 X 射线谱通常包括 和 。 8、当高速的电子束轰击金属靶会产生两类 X 射线，它们是_和 _，其中在 X 射线粉末衍射中采用的是_ _ 。 9、特征 X 射线是由元素原子中_引起的，因此各元素都有特定的 _和_电压，特征谱与原子序数之间服从_ _定律。 10、同一元素的入 Kα1、入 Kα2、入 Kβ 的相对大小依次为_；能量从小 到大的顺序是_。(注：用不等式标出) 11、X 射线通过物质时，部分 X 射线将改变它们前进的方向，即发生散射现象。 X 射线的散射包括两种： 和 。 12、hu+kv+lw=0 关系式称为_ ,若晶面(hkl)和晶向[uvw]满足该关 系式，表明_ 。 15、倒易点阵是由晶体点阵按照 式中， 为倒易点阵基矢， 为正点阵基矢 的对应关系建立的空间点阵。在这个倒易点阵中，倒易矢量 的坐标表达 式 为 ，其基本性质为
14、X射线在晶体中产生衍射时，其衍射方向与晶体结构、入射线波长和入射线和方位间的关系可用四种方法来表达。15、当波长为入的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的波程差是，相邻两个（HKL）反射线的波程差是，0表16、布拉格公式入=2dsine中2表示_，d表示示17、获得晶体衍射花样的三种基本方法是o来获得衍18.获得晶体衍射花样三种基本的方法中，劳埃法是通过改变射花样的，主要用于判断旋转单晶法是旋转晶体，改变；粉末法是通过单色来获得衍射花样的，主要用于研究X射线照射多晶体样品，改变来产生衍射的，测定样品的而产19、当X射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要条件是生衍射的充要条件是和20、X射线的衍射的强度主要取决于21、X射线衍射仪探测器主要性能是上，二者22、测角仪在工作时，为了使样品与计数管始终在同一个的转速必须保持23、测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成300角，则计数管与入射线所成角度为：能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈关系。24、粉末照相法底片安装方法有三种：和25、粉末衍射仪法衍射峰20角的测量方法有和两种。26、多晶X射线粉末衍射分析方法通常有27.X射线衍射仪的新进展主要有三个方面
14、X 射线在晶体中产生衍射时，其衍射方向与晶体结构、入射线波长和入射线 方位间的关系可用_ _ _、_ _、_和 _四种方法来表达。 15、当波长为 λ 的 X 射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线 的波程差是 ，相邻两个（HKL）反射线的波程差是 。 16、布拉格公式 λ=2dsinθ 中 λ 表示 ，d 表示 ，θ 表 示 。 17、获得晶体衍射花样的三种基本方法是 、 、 。 18．获得晶体衍射花样三种基本的方法中，劳埃法是通过改变 来获得衍 射花样的，主要用于判断 ；旋转单晶法是旋转晶体，改 变 来获得衍射花样的，主要用于研究 ；粉末法是通过单色 X 射线照射多晶体样品，改变 来产生衍射的，测定样品的 。 19、当 X 射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要条件是_,而产 生衍射的充要条件是_ _ _ 。 20、X 射线的衍射的强度主要取决于 和 。 21、X 射线衍射仪探测器主要性能是 、 、 、 、 。 22、测角仪在工作时，为了使样品与计数管始终在同一个_ _上，二者 的转速必须保持_。 23、测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成 300 角，则计数管与 入射线所成角度为 ；能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈 关系。 24、粉末照相法底片安装方法有三种： 、 和 。 25、粉末衍射仪法衍射峰 2θ 角的测量方法有 、 、 。 26、多晶 X 射线粉末衍射分析方法通常有 和 两种。 27．X 射线衍射仪的新进展主要有 、 、 三个方面
索引和28、PDF卡片的二种常用的数值索引是索引，前者是按衍射线的顺序排列的，后者是按衍射线的顺序排列的。，参考29、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是30、X射线衍射定量分析的方法有31、精确测定点阵参数校正或消除误差常用的有哪三种方法？有三种方法。两种。和32、X射线衍射仪测定宏观应力的方法主要有个方向上某晶33、为了测得材料表面沿某个方向上的宏观应力，至少要测面的晶面间距，相应的方法称为三种34、织构表示方法有35、计算机技术在多晶体衍射中的应用主要有三个方面：①②③36、光学显微镜是可见光束通过光学透镜发生达到放大的目的，而成像于：电子显微镜是电子束通过电磁场（电子透镜）发生达到放大的目的，并成像于和37、电镜中透镜分辨本领取决于38、波谱仪分析的元素范围为，能谱分析的元素范围为和39、扫描电镜图像的分辨率决定于C和40、透射电镜中的电子光学系统可分为三部分。41、倒易矢量的长度等于正点阵中42、爱瓦尔德球图解法是的几何表达形式。，L表43、电子衍射基本公式R=2Lg中的R表示，入表示示，g表示的能力。44、谱仪的分辨率是
28、PDF 卡片的二种常用的数值索引是_ _索引和_ _索引，前者 是按衍射线的_顺序排列的，后者是按衍射线的_顺序排列的。 29、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是_ _，参考_ _。 30、X 射线衍射定量分析的方法有 、 、 、 、 。 31 、精确测定点阵参数校正或消除误差常用的有哪三种方法？ 有 、 、 三种方法。 32、X 射线衍射仪测定宏观应力的方法主要有 和 两种。 33、为了测得材料表面沿某个方向上的宏观应力，至少要测_个方向上某晶 面的晶面间距，相应的方法称为_ 。 34、织构表示方法有 、 、 三种 35、计算机技术在多晶体衍射中的应用主要有三个方面：① 、 ② 、③ 。 36、光学显微镜是可见光束通过光学透镜发生 达到放大的目的，而 成像于 ；电子显微镜是电子束通过电磁场（电子透镜） 发生 达到放大的目的，并成像于 。 37、电镜中透镜分辨本领取决于 和 。 38、波谱仪分析的元素范围为 ，能谱分析的元素范围为 。 39、扫描电镜图像的分辨率决定于 和 。 40、透射电镜中的电子光学系统可分为 、 和 三部分。 41、倒易矢量的长度等于正点阵中 。 42、爱瓦尔德球图解法是 的几何表达形式。 43、电子衍射基本公式 R = λLg 中的 R 表示 ，λ 表示 ，L 表 示 ，g 表示 。 44、谱仪的分辨率是 的能力
45、电子波长与其加速电压平方根成，加速电压越，电子波长越和46、透射电镜粉末样品制备方法有47、复杂电子衍射花样通常包括和48、电子探针X射线显微分析中常用X射线谱仪有49、光电子发射可以分为三个过程，即（1）:(2)(3)和50、像差分为两类。51、金属薄膜制备过程大体是：52、X射线光电子能谱是测定低能电子的动能从而得到光电子的53、真正能够保持其特征能量而逸出表面的俄歇电子却仅限于表层以下nm的深度范围。和54、透射电镜的主要性能指标是55、透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为操作。操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为56、扫描电镜由和等部分组成。57、扫描电镜中样品制备的镀膜方法主要有两种：一种是，另一种方法是58、电子探针显微分析有四种基本分析方法：和和59、电子衍射成像中所指的双光束是60、TEM中物镜的作用是中间镜在成像时的作用是61、衡量透镜的性能优劣的指标是它取决于
45、电子波长与其加速电压平方根成 ，加速电压越 ，电子波长 越 。 46、透射电镜粉末样品制备方法有 和 。 47、复杂电子衍射花样通常包括 、 、 、 、 。 48、电子探针 X 射线显微分析中常用 X 射线谱仪有 和 。 49、光电子发射可以分为三个过程，即（1） ； （2） ；（3） 。 50、像差分为 和 两类。 51、金属薄膜制备过程大体是： 、 、 。 52、X 射线光电子能谱是测定低能电子的动能从而得到光电子的 。 53、真正能够保持其特征能量而逸出表面的俄歇电子却仅限于表层以下 nm 的 深度范围。 54、透射电镜的主要性能指标是 、 和 。 55、透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为 操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为 操作。 56、扫描电镜由 、 、 、 、 和 等部分组成。 57、扫描电镜中样品制备的镀膜方法主要有两种：一种是 ，另一种方 法是 。 58、电子探针显微分析有四种基本分析方法： 、 、 和 。 59、电子衍射成像中所指的双光束是 和 。 60、 TEM 中物镜的作用是 。 中间镜在成像时的作用是 ， 。 61、衡量透镜的性能优劣的指标是 ，它取决于
62、TEM的电子光学系统是由组成的。63、平行于膜面的层错衬度特征是倾斜与膜面的层错衬度特征是64、影响SEM分辨率的主要因素有65、通常SEM的分辨率是指，其成像衬度原理为66、完整晶体和不完整晶体运动学理论衍射振幅的表达式为元r['exp(-2usz ]d,中,=2E（完整晶体）0 -lep(-2nz)ep(- 2ng RS（不完整晶体）对于给定的缺陷，R(x,y,z)是确定的，g是用于成像的操作反射，令N=g·R，则缺陷是否可见的重要判据是；各类型位错衬度消失的一个实际可行的有效判据是67、消光距离是指68、结构消光是指其物理含义69、电子衍射的相机常数为是70、衡量透镜的性能优劣的指标是它取决于71、商品TEM的三个主要指标是72、制备复型的材料应具备的性质要求是73、双光束衍射条件是
62、 TEM 的电子光学系统是由 组成的。 63、 平行于膜面的层错衬度特征是 ， 倾斜与膜面的层错衬度特征是 。 64、 影响 SEM 分辨率的主要因素有 . 。 65、 通常 SEM 的分辨率是指 ，其成像衬度原理 为 。 66、完整晶体和不完整晶体运动学理论衍射振幅的表达式为: （完整晶体） （不完整晶体） 对于给定的缺陷，R(x,y,z)是确定的，g 是用于成像的操作反射，令 N = gR， 则缺陷是否可见的重要判据是 ；各类型位错衬度消失的一个实 际可行的有效判据是 。 67、消光距离g是指 . 。 68、结构消光是指 . . 。 69 、电子衍射的相机常数为 ， 其 物 理 含 义 是 。 70、衡量透镜的性能优劣的指标是 ，它取决于 。 71、商品 TEM 的三个主要指标是 、 、 。 72、制备复型的材料应具备的性质要求是 . . 。 73、双光束衍射条件是 .
74、产生电子衍射的必要条件是充分条件是75、电子衍射的相机常数为其物理含义是76、苯环的红外光谱吸收峰主要可能出现在cm-l,_cm-lcm-lcml；其紫外主要吸收的位置在77、判断苯环上取代基数量和位置的两处吸收带分别在cm-l和cm；苯环的紫外特征吸收波长在nm.78、下表列出几个红外吸收的波数，请填入相应的可能存在的基团。1650cm-l1715 cm-l2720 cml1460 cm-l3300 cml79、紫外光谱由能级跃迁产生，而红外光谱由能级跃迁产生。80、羰基连在苯环上，则吸收峰从_cm-l 变为cml，原因是81、样品在cm-l和cm-l有吸收峰，则可能含有水，进一步检验是否有水的办法有：82、影响红外光谱吸收峰位置的主要因素有：83、凝胶色谱的紫外检测器可适于检测以下类型的材料：84、拉曼光谱与红外光谱在数值相等，但选律不同，前者适合于研究，后者则适合于研究二、选择题)1、特征X射线产生的机理是：（
74、产生电子衍射的必要条件是 ， 充分条件是 。 75、电子衍射的相机常数为 ，其物理含义 是 。 76、苯环的红外光谱吸收峰主要可能出现在 cm-1 , cm-1 , cm-1 , cm-1 ; 其紫外主要吸收的位置在 。 77、判断苯环上取代基数量和位置的两处吸收带分别在 cm-1 和 cm-1； 苯环的紫外特征吸收波长在 nm。 78、下表列出几个红外吸收的波数，请填入相应的可能存在的基团。 1650 cm-1 1715 cm-1 2720 cm-1 1460 cm-1 3300 cm-1 79、紫外光谱由 能级跃迁产生，而红外光谱 由 能级跃迁产生。 80、羰基连在苯环上，则吸收峰从 cm-1 变为 cm-1，原因是 。 81、样品在 cm-1 和 cm-1 有吸收峰，则可能含有水，进一步检验是否有 水的办法有： 。 82、影响红外光谱吸收峰位置的主要因素有： ， ， ， ， ， 。 83、凝胶色谱的紫外检测器可适于检测以下类型的材料： ， ， 。 84、拉曼光谱与红外光谱在 数值相等，但选律不同，前者适合于研究 ，后者则适合于研究 。 二、选择题 1、特征 X 射线产生的机理是：（ ）
①高速电子受阻②原子内层电子跃迁③外层电子被打掉。2、X射线连续谱中存在一个短波极限，其波长入=（0①1.24/V（千伏）nm②12.4/V（千伏）nm③12.4/伏nm3、滤波的目的是：（）①避免荧光辐射②获得K系单色③防止光电效应4、物质对X射线的吸收主要是由（）①散射②热效应③光电效应引起的5、吸收因子A（O）越大，则X射线衍射累积强度（)①越大②越小③不影响6、在debye照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是（?①正装②反装③不对称7、电子从L层跃迁到K层的率比从M层跃迁到K层的几率约大（①5倍②3倍③7倍8、宏观内应力对X射线衍射花样的影响是：（）①衍射线加宽②衍射线角位移③衍射线强度减弱④衍射增多9、系统消光规律中同种原子体心晶胞的晶面存在衍射的是（)。①(110)②(203)③(100)10、在点阵参数精测中，应尽可能选择()衍射线。①高强度②相邻③高角度)。11、通过透镜中心且与主轴垂直的平面叫做（①焦平面②透镜主平面③像平面12、由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的的)。像差，称为（①球差②像散③色差13、在透射电镜中称为衬度光阑的是（)。①聚光镜光阑②物镜光③选区光）。14、把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的（①景深②焦长③球差15、倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的（)。①一个点②一个晶面③一组晶面
①高速电子受阻 ②原子内层电子跃迁 ③外层电子被打掉。 2、X 射线连续谱中存在一个短波极限，其波长入＝（ ） ①1.24/V(千伏) nm ②12.4/V(千伏) nm ③12.4/伏 nm 3、滤波的目的是：( ) ①避免荧光辐射 ②获得 K 系单色 ③防止光电效应 4、物质对 X 射线的吸收主要是由（ ） ①散射 ②热效应 ③光电效应引起的 5、吸收因子 A（θ）越大，则 X 射线衍射累积强度( ) ① 越 大 ②越小 ③不影响 6、在 debye 照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是（ ） ①正装 ②反装 ③不对称 7、电子从 L 层跃迁到 K 层的几率比从 M 层跃迁到 K 层的几率约大（ ） ① 5 倍 ② 3 倍 ③ 7 倍 8、宏观内应力对 X 射线衍射花样的影响是：（ ） ①衍射线加宽 ②衍射线角位移 ③衍射线强度减弱 ④衍射增多 9、系统消光规律中同种原子体心晶胞的晶面存在衍射的是（ ）。 ① (110) ② (203) ③ (100) 10、在点阵参数精测中，应尽可能选择( )衍射线。 ① 高强度 ②相邻 ③高角度 11、通过透镜中心且与主轴垂直的平面叫做（ ）。 ①焦平面 ②透镜主平面 ③像平面 12、由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的的 像差，称为（ ）。 ①球差 ②像散 ③色差 13、在透射电镜中称为衬度光阑的是（ ）。 ① 聚光镜光阑 ②物镜光阑 ③选区光阑 14、把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的（ ）。 ①景深 ②焦长 ③球差 15、倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的（ ）。 ①一个点 ②一个晶面 ③一组晶面
16、电子枪中控制电子流量和流向的是（③阳极①阴极②栅极)。17、吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子（①越多②越少③不变)。18、让透射束通过物镜光康而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做①明场成像②暗场成像③中心暗场成像19、入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做（）。①衍射衬度②消光距离③偏离矢量20、当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同种原子产生有序排列时，将引起其电子衍射结果的变化，即可以使本来消光的斑点出现，这种斑点称为)。①二次衍射斑点②高阶劳爱斑点③超点阵斑点21、据Ewald图解可知，满足衍射条件的晶面倒易点阵，落在半径为（1①1/入②2/入③2入④1/2入为半径的反射球面上22、色差是一种（）。①球差②像差③像散)。23、把透镜像平面允许的轴向偏差定义为（①球差②景深③焦长）。24、电子枪中给电子加速的称为（①阳极②阴极③栅极25、二次电子的产额随样品的倾斜度成变化，倾斜度最小，二次电子产额（)。①最少②最多③中等26、产生俄歇电子深度范围为表层以下（）。①10nm左右②2nm左右③1nm左右27、影响电镜中透镜分辨本领主要是衍射效应和（。①像散②球差③色差28、塑料一级复型的分辨率一般只能达到（）。①5nm左右②10nm左右③20nm左右
16、电子枪中控制电子流量和流向的是（ ）。 ① 阴极 ②栅极 ③阳极 17、吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子（ ）。 ①越多 ②越少 ③不变 18、让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（ ）。 ①明场成像 ②暗场成像 ③中心暗场成像 19、入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做（ ）。 ①衍射衬度 ②消光距离 ③偏离矢量 20、当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同种原子产生有序排列时， 将引起其电子衍射结果的变化，即可以使本来消光的斑点出现，这种斑点称为 （ ）。 ①二次衍射斑点 ②高阶劳爱斑点 ③超点阵斑点 21、据 Ewald 图解可知，满足衍射条件的晶面倒易点阵，落在半径为（ ） ① 1/入 ②2/入 ③2 入 ④1/2 入 为半径的反射球面上 22、色差是一种（ ）。 ①球差 ②像差 ③像散 23、把透镜像平面允许的轴向偏差定义为（ ）。 ①球差 ②景深 ③焦长 24、电子枪中给电子加速的称为（ ）。 ①阳极 ②阴极 ③栅极 25、二次电子的产额随样品的倾斜度成变化，倾斜度最小，二次电子产额（ ）。 ①最少 ②最多 ③中等 26、产生俄歇电子深度范围为表层以下（ ）。 ①10nm 左右 ②2nm 左右 ③1nm 左右 27、影响电镜中透镜分辨本领主要是衍射效应和（ ）。 ① 像散 ②球差 ③色差 28、塑料一级复型的分辨率一般只能达到（ ）。 ①5nm 左右 ②10nm 左右 ③20nm 左右
29、通过倒易点阵可以把晶体的电子衍射斑点直接解释成晶体相应（）的衍射结果。①质点②晶面③晶胞30、在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做( )。①二次电子②背散射电子③俄歇电子31、能谱仪的分辨率比波谱仪（）。①高②低③相同32、通过透镜中心且与主轴垂直的平面叫做（。①焦平面②透镜主平面③像平面33、二次电子的产额随样品的倾斜度成变化，倾斜度最小，二次电子产额（）。①最少②最多③中等34、在透射电镜中称为衬度光阑的是（）。①聚光镜光阑②物镜光阑③选区光阑35、倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的（）。①一个点②一个晶面③一组晶面。36、吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子（)。①越多②越少③不变)。37、让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（①明场成像②暗场成像③中心暗场成像38、入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做（)。①衍射衬度②消光距离③偏离矢量)。39、让衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（①明场成像②暗场成像③中心暗场成像40、产生俄歇电子深度范围为表层以下（）。①10nm左右②2nm左右③1nm左右41、在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做（）。①二次电子②背散射电子③俄歇电子
29、通过倒易点阵可以把晶体的电子衍射斑点直接解释成晶体相应（ ）的衍 射结果。 ①质点 ②晶面 ③晶胞 30、在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做 （ ）。 ①二次电子 ②背散射电子 ③俄歇电子 31、能谱仪的分辨率比波谱仪（ ）。 ①高 ②低 ③相同 32、通过透镜中心且与主轴垂直的平面叫做（ ）。 ①焦平面 ②透镜主平面 ③像平面 33、二次电子的产额随样品的倾斜度成变化，倾斜度最小，二次电子产额（ ）。 ①最少 ②最多 ③中等 34、在透射电镜中称为衬度光阑的是（ ）。 ① 聚光镜光阑 ②物镜光阑 ③选区光阑 35、倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的（ ）。 ①一个点 ②一个晶面 ③一组晶面。 36、吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子（ ）。 ①越多 ②越少 ③不变 37、让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（ ）。 ①明场成像 ②暗场成像 ③中心暗场成像 38、入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做（ ）。 ①衍射衬度 ②消光距离 ③偏离矢量 39、让衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（ ）。 ①明场成像 ②暗场成像 ③中心暗场成像 40、产生俄歇电子深度范围为表层以下（ ）。 ①10nm 左右 ②2nm 左右 ③1nm 左右 41、在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做 （ ）。 ①二次电子 ②背散射电子 ③俄歇电子
42、能谱仪的分辨率比波谱仪（）。①高②低③相同43、红外光谱特征吸收峰的峰强可能与下列因素有关（）（1）样品中对应基团的含量，（2）该基团的极性（3）测试方法44、红外光谱定量分析的误差能够达到不大于（）(1) 0.5%, (2)2.0%(3) 5.0%(4)10.0%45、在紫外光谱中，与羰基相连的向蓝基团包括（）（1）甲氧基（2）羟基（3）烷基（4）氨基46、无机氢氧化物的红外吸收通常在3400-3700cm，其他多数无机物的红外吸收都由阴离子（团）的晶格振动引起，在1500cm以下的低频区，尤其在()（1)400-800cm（2）400-650cml（1)600-1000cm47、有机发光材料通常具有共轭双键，因此可选用下列（）方法分析材料的结构。（1）红外光谱（2）紫外光谱（3）拉曼光谱48、某红外谱图在1700-2000cml没有苯环的倍频峰，则可推断该样品（）（1）不含苯环（2）含苯环（3）不能确定是否含苯环49、某红外谱图在1650-2000cml没有吸收峰，则可推断样品（）（1）不含羰基（2）不含苯环（3）可能含羰基（4）可能含苯环50、某红外谱图在3000-3800cm-l没有吸收峰，则可推断样品（）（2）不是胺类（1）不含羟基（3）没有双键（4）没有三键三、名词解析题1、物相2、K系辐射3、激发电压4、Tomson散射5、Compton散射6、光电效应7、荧光辐射8、俄歇效应
42、能谱仪的分辨率比波谱仪（ ）。 ①高 ②低 ③相同 43、红外光谱特征吸收峰的峰强可能与下列因素有关（ ） （1）样品中对应基团的含量， （2）该基团的极性 （3）测试方法 44、红外光谱定量分析的误差能够达到不大于（ ） （1）0.5%, (2) 2.0% (3) 5.0% (4) 10.0% 45、在紫外光谱中，与羰基相连的向蓝基团包括（ ） （1）甲氧基 （2）羟基 （3）烷基 （4）氨基 46、无机氢氧化物的红外吸收通常在 3400-3700cm-1，其他多数无机物的红外吸 收都由阴离子（团）的晶格振动引起，在 1500cm-1以下的低频区，尤其在 （ ） （1）400-800cm-1 （2）400-650cm-1 （1）600-1000cm-1 47、有机发光材料通常具有共轭双键，因此可选用下列（ ）方法分析材料的结 构。（1）红外光谱 （2）紫外光谱 （3）拉曼光谱 48、某红外谱图在 1700-2000cm-1 没有苯环的倍频峰，则可推断该样品（ ） （1）不含苯环 （2）含苯环 （3）不能确定是否含苯环 49、某红外谱图在 1650-2000cm-1 没有吸收峰，则可推断样品（ ） （1）不含羰基 （2）不含苯环 （3）可能含羰基 （4）可能含苯环 50、某红外谱图在 3000-3800cm-1 没有吸收峰，则可推断样品（ ） （1）不含羟基 （2）不是胺类 （3）没有双键 （4）没有三键 三、名词解析题 1、物相 2、K 系辐射 3、激发电压 4、Tomson 散射 5、Compton 散射 6、光电效应 7、荧光辐射 8、俄歇效应