4.1 图层、线型和颜色的概念 4.1.1 图层 4.1.2 线型 4.1.3 颜色 4.2 图层特性管理器 4.3 线型管理器 4.3.1 线型设置 4.3.2 线宽设置 4.4 对象特性工具栏

§4.1 标准平衡常数 4.1.3 标准平衡常数的实验测定 4.1.2 标准平衡常数表达式 4.1.1 化学平衡的基本特征 §4.2 标准平衡常数的应用 4.2.1 判断反应程度 4.2.3 计算平衡组成 4.2.2 预测反应方向 §4.3 化学平衡的移动 §4.4 自发变化和熵 4.4.1 自发变化 4.4.5 化学反应熵变和 4.4.4 热力学第三定律和标准熵 4.4.3 混乱度、熵和微观状态数 4.4.2 焓和自发变化 §4.5 Gibbs函数 4.5.3 Gibbs函数与化学平衡 4.5.2 标准摩尔生成Gibbs函数 4.5.1 Gibbs函数[变]判据 4.5.4 van’t Hoff 方程式

4.1.1 集成运放的主要直流和低频参数 4.1.1.1 输入失调电压VIO 4.1.1.2 输入失调电压的温度系数 aVIO

4.1 概述. 1 4.1.1 什么是聚类分析.1 4.1.2 基本聚类方法概述.2 4.1.3 文本聚类.3 4.2 数据间的相似性度量. 4 4.2.1 数据对象间的距离.4 4.2.2 数据对象间的相似系数.5 4.2.3 数据类间的距离.5 4.2.4 数据标准化.7 4.3 基本聚类方法. 7 4.3.1 k-均值聚类方法 .7 4.3.2 层次聚类方法.8 4.3.3 聚类要注意的问题.10 4.4 基于密度的聚类（待更新）. 10 4.5 聚类结果的评估. 10 4.5.1 基于用户验证的评估方法.11 4.5.2 基于真实数据的聚类结果评估.11 4.6 聚类分析的案例与软件操作. 11 4.6.1 K-MEANS 聚类案例(SPSS Modeler).11 4.6.2 K-MEANS 聚类案例(R 语言) .15 4.6.3 层次聚类案例（SPSS）.20 4.6.4 层次聚类案例（R 语言）.23

第4章计算机常用软件 4.1 Windows操作系统 4.1.1图形用户界面技术 4.1.2基本概念介绍 4.1.3文件和程序管理

41工程量计算的一般原理与方法 4.1.1工程计量的概念 4.1.2工程量计算的依据 4.1.3工程量计算一般原理 4.1.4工程量计算方法和步骤

4.1 认识内存 4.1.1 内存的种类 4.1.2 内存的结构 4.1.3 计算内存带宽 • 4.2 内存的选购 4.2.1 内存选购的原则 4.2.2 内存的性能指标 4.2.3 判断优劣

• 4.1 存储器的概念、分类和要素 •4.1.1 简介 •4.1.2 半导体存储器的分类 •4.1.3 选择存储器件的考虑因素 • 4.2 随机读写存储器（RAM） •4.2.1 静态RAM •4.2.2 动态RAM •4.2.3 几种新型的RAM 技术及芯片类型 • 4.3 只读存储器（ROM） •4.3.1 掩膜ROM •4.3.2 可擦除可编程的ROM（EPROM） •4.3.3 电可擦可编程ROM(EEROM) • 4.4 CPU与存储器的连接 •4.4.1 CPU与存储器的连接时应注意的问题 •4.4.2 存储器片选信号的产生方式和译码电路 •4.4.3 CPU（8088系列）与存储器的连接 • 4.5 IBM-PC/XT中的存储器，扩展存储器 •4.5.1 存储空间的分配 •4.5.2 ROM子系统 •4.5.3 RAM子系统 4.5.4 寻址范围 •4.5.4 寻址范围 •4.5.5 存储器的管理 •4.5.6 高速缓存器Cache

2.解： eddfbbd S AbB 1,1.1(表示第 1 步，用产生式 1.1 推导,以下同) CAbbB 2,2.1 edAbbB 3,4.1 edCAbbbB 4,2.1 ededAbbbB 5,4.1(不匹 配) edaAbbbB 5，4.2 (不匹配，回溯到 edAbbB) edBfbbB 4,2.2 edCSdfbbB 5,3.1 ededSdfbbB 6,4.1(不匹配) edaSdfbbB 6,4.2(不匹配，回溯到

• 结构 • 工作原理 • 输出特性 • 转移特性 • 主要参数 4.1.1 JFET的结构和工作原理 4.1.2 JFET的特性曲线及参数