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3.1 数字集成电路的分类 3.2 半导体器件的开关特性 3.3 逻辑门电路 3.4 触发器
文档格式:PPT 文档大小:2.5MB 文档页数:39
第8章时序逻辑设计实践(二) 一、S型锁存器和触发器 二、M器件:计数器、移位寄存器 三、其它:文档、迭代、故障和亚稳定性
文档格式:PPT 文档大小:296.5KB 文档页数:20
第6章组合逻辑电路设计实例 一、桶式移位器 二、简单浮点编码器 三、双优先级编码器 四、级联比较器 五、关模比较器
文档格式:PPT 文档大小:1.5MB 文档页数:50
第8章时序逻辑设计实践(一) 一、S型锁存器和触发器 二、M器件:计数器、移位寄存器 三、其它:文档、迭代、故障和亚稳定性
文档格式:PPT 文档大小:4.04MB 文档页数:71
3.1 晶体管的开关特性 3.2 TTL集成逻辑门 3.3 MOS逻辑门电路 3.4 CMOS电路
文档格式:PPT 文档大小:4.04MB 文档页数:71
3.1 晶体管的开关特性 3.2 TTL集成逻辑门 3.3 MOS逻辑门电路 3.4 CMOS电路
文档格式:DOC 文档大小:241KB 文档页数:4
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导(数字电路实验)实验二 集成逻辑门的参数测试
文档格式:DOC 文档大小:241KB 文档页数:4
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导(数字电路实验)实验二 集成逻辑门的参数测试
文档格式:DOC 文档大小:19.5KB 文档页数:2
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导(数字电路实验)实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试
文档格式:DOC 文档大小:19.5KB 文档页数:2
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导(数字电路实验)实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试
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