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1、晶体管放大器和场效应管放大器的 静态分析和动态分析方法(图解分析法 和微变等效电路分析法)。 2、晶体三极管放大电路三种组态的电 路结构与工作原理。 本章难点: 放大电路的图解分析法和微变等效电路 分析法
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第三节 分子的极性、分子间的作用力和氢键 第四节 晶体结构
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第三节 晶体对X射线的衍射、第四节 晶体结构分析简介 第五节 粉晶X射线衍射法(XRD) 第六节 物相分析方法
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本文分析了氯离子。镀层缺陷。应力和氢诸因素对晶体管外引线腐蚀断裂的影响,提出了电偶腐蚀、小孔腐蚀(或缝隙腐蚀)、应力腐蚀协同作用的机制,并用这种失效机制解释了现场所观察到的断腿问题
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一、选择题(共5题25分) 1.5分(1402)1402 在N个NO分子组成的晶体中,每个分子都有两种可能的排列方式,即NO和ON,也可将晶体视为NO和ON的混合物,在0K时该体系的熵值:() (A)S=0 (B)So= (C)=Nkin2 (D)So=2kInN
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一、单项选择题(在每小题的四个备选答案中选出一个正确答案,并将其号码填在题干的括号内。每小题2分,共28分) 1.从提高晶体管放大能力出发,除了将晶体管基区做得很薄,且掺杂浓度很低之外 ,工艺上还要采取如下措施:() A.发射区掺杂浓度高,集电结面积小 B.发射区掺杂浓度高,集电结面积大 C.发射区掺杂浓度低,集电结面积小 D.发射区掺杂浓度低,集电结面积大
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1. 一个电子对X射线的散射 2. 一个原子对X射线的散射 3. 一个单胞对X射线的散射 4. 一个小晶体对X射线的散射 5. 粉末多晶体的HKL面的衍射强度
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晶体点阵对X射线的衍射 布拉格定律 衍射矢量方程和厄尔瓦德图解
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绪论 第二讲、晶体的投影 、倒易点阵 第三讲 X射线的产生和性质 第四讲、晶体的衍射 第五讲 劳埃法及其应用 第六讲 粉末照相法 第七讲 衍射仪法 第八讲 X光衍射线的线形分析及物相分析 第九讲 精确测定点阵常数 第十讲 宏观应力的测定 第十一讲 微晶尺寸与微观应力的测定 第十二讲 织构的测定
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2.1 放大器概述 2.2 放大器基本分析法 2.3 晶体管偏置电路 2.4 晶体放大器的三种基本组态 2.5 场效应管放大器 2.6 有源负载放大器 2.7 多级放大器 2.8 放大器的表示法
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