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文档格式:PDF 文档大小:574.74KB 文档页数:5
为解决矿床仿真构模中对矿床几何信息描述和属性信息描述中存在的模型分离问题,采用体视化技术,建立了体矿床模型.通过分析矿床体视化仿真中的数据流程,建立了表现矿体空间分布、矿体中重点区域、矿体剖切分层的三类体模型,并实现了直接基于体模型的矿石储量、金属量的计算工作.经实例分析表明,利用体矿床建模技术,不仅能够进行矿床属性的定性分析,而且便于进行定量计算,为完善矿床建模技术提供了一条途径
文档格式:PDF 文档大小:788.55KB 文档页数:6
采用Delaunay三角化方法对计算区域进行网格划分,开发了适合于非结构化网格的蒙特卡洛直接模拟程序,并对程序的正确性进行了验证.在此基础上模拟分析了粗糙元为三角形的平行平板间微通道内稀薄气体的二维流动与换热.通道进出口压力固定,上下平板温度恒定.计算分析了粗糙元高度、宽度以及分布密度的影响.结果表明:微通道内粗糙元对流动与换热有明显的扰动;随着粗糙元的变大,速度跳跃显著,甚至出现漩涡,增加了通道内的压力损失;但粗糙元增强了微通道壁面与气体之间的换热
文档格式:DOC 文档大小:33KB 文档页数:4
一、零件图样的工艺分析: 零件图的完整性、正确性分析 在手工编程时要计算构成零件轮廓的每一个节点坐标,在自动编程时要对构成 零件轮廓的所有几何元素进行定义,但常常遇到构成零件轮廓的几何元素的条件不 充分。如圆弧与直线、圆弧与圆弧在图样上相切,可是依据图样给出的尺寸计算相 切条件时却变成了相交或相离状态,这种情况导致编程无法进行。因此,当审查与 分析图样时,发现构成零件轮廓的几何元素的条件不充分时,应及时与零件设计者 协商解决
文档格式:DOC 文档大小:106.5KB 文档页数:2
一、求极限(每小题6分,共12分) 二求导数(每小题6分,共18分)
文档格式:DOC 文档大小:20.5KB 文档页数:3
一、报考财政学专业各研究方向并答题(共40分): (一)论述题(下列二题中任选一题,每题20分): 1.试论社会主义市场经济体制下财政分配对资源配置的效率作用 2.试述从计划经济向市场经济转轨时期财源结构的变化及其对当前财政状况的影响。 (二)论述题(下列三题中任选二题,每题10分): 1.简论社会主义市场经济体制下财政在政府宏观调控中的地位及调控的重点 2.试述国家财政的消耗性支出和转移性支出的内容及其对经济运行的影响。 3、试论国家预算管理的统一性原则
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北京大学1998年研究生入学考试:企业管理试题 一、解释下列划横线的概念(每题4分,共16分) 1、生产要素的边际替代率 2、“经济人”假定 3、管理中的“权变” 4、企业中的非正式组织 二、简述题(每题6分,共24分) 1、马斯洛的需求层次论 2、产品的生命周期 3、生产配置的产品原则和工艺原则 4、完全垄断与寡头垄断的区别
文档格式:PDF 文档大小:723.21KB 文档页数:7
研究了均匀形核的金属液滴凝固过程,应用渐近分析法求得金属液滴内晶核生长数学模型的渐近解,分析了表面张力、界面动力学参数、初始晶核尺寸和过冷度对晶核界面生长速度、晶核半径以及液滴凝固时间的影响.在一定的过冷条件下,表面张力和界面动力学参数显著减缓了晶核界面生长速度.在凝固开始的很短时间内晶核界面生长速度迅速上升,当速度上升到最大值后,随着晶核半径的增大,界面生长速度逐渐减慢,表面张力和界面动力学参数对晶核生长速度的作用也逐渐减小.过冷度越大,液滴凝固时间越短.经过在开始的瞬变凝固阶段之后,温度场从设定的初始分布迅速地调整为由过冷度、表面张力、界面动力学参数等所确定的特定温度分布
文档格式:PDF 文档大小:425.22KB 文档页数:4
利用非线性热力耦合有限元方法,对浇铸过程中结晶辊辊套的温度场分布进行了研究,并同时计算出了结晶辊的热变形.给出了浇铸稳定阶段的结晶辊温度场分布和热变形规律;分析了浇铸速度对结晶辊温度场和热变形的影响.通过分析得出,在浇铸稳定阶段结晶辊温度只在表层区域发生周期性变化,内部保持基本稳定,浇铸速度越低,周期性变化幅度越大
文档格式:PPT 文档大小:521.5KB 文档页数:82
3.1 周期信号分解为傅里叶级数 3.2 信号在正交函数空间的分解 3.3 周期信号的频谱 3.4 非周期信号的频谱 3.5一些常见信号的频域分析 3.6 傅里叶变换的性质及其应用 3.7 相关函数与谱密度 3.8 连续系统的频域分析 3.9 信号的无失真传输和理想滤波器
文档格式:PDF 文档大小:809.86KB 文档页数:5
采用静电辅助的气溶胶化学气相沉积的方法成功地在Si(100)衬底上制备了Y2O3薄膜,利用X射线衍射(XRD)、场发射扫描电镜(FE-SEM)、原子力显微镜(AFM)和X射线光电子能谱(XRP)对薄膜进行了表征.SEM分析结果显示,薄膜的颗粒为纳米级的,并且薄膜致密、平整.AFM分析结果表明,薄膜的粗糙度为11nm.由XPS分析可知,薄膜为基本上符合化学计量比的氧化物.附着力测试表明,Y2O3薄膜与Si衬底的附着力为4.2N.X射线衍射分析结果表明,沉积得到的Y2O3薄膜在热处理前为非晶结构,热处理之后薄膜具有立方晶体结构,并且沿(111)面择优生长
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