在本章中，将介绍从显影到最终检验所使用的基本方法。还涉及掩膜版工艺的使用和定位错误的讨论。 9.1 显影 9.2 硬烘焙

1. 离散时间傅立叶变换； 2. 常用信号的离散时间傅立叶变换对; 3. 离散时间周期信号的傅立叶变换； 4. 傅立叶变换的性质； 5. 系统的频率响应与系统的频域分析方法；

1. 双边拉普拉斯变换； 2. 双边拉普拉斯变换的收敛域； 3. 零极点图； 4. 双边拉普拉斯变换的性质； 5. 系统函数； 6. 单边拉普拉斯变换；

§3-1 多级放大电路的耦合方式 §3-2 多级放大电路的动态分析 §3-3 直接耦合放大电路

§1.3.1 基尔霍夫定律 §1.3.2 基尔霍夫定律 §1.3.3 从网络到图 §1.3.4 KCL、KVL的矩阵形式 §1.3.5 特勒根定理

§1.4.1 电阻元件及其约束方程 §1.4.1 功率和能量

8.1 数字系统的基本模型 8.1.1 信息处理单元的构成 8.1.2 控制单元CU的构成 8.2 数字系统设计的描述工具 8.2.1 方框图 8.2.2 定时图 (时序图、时间关系图) 8.2.3 逻辑流程图 8.2.4 ASM图

§1.4.3 受控电源 §1.4.4 运算放大器 §1.4.5 理想变压器 §1.4.6 回转器 §1.4.7 负转换器

§2.1 电路的分类 §2.2 线性非时变电阻性电路的直接分析法 §2.3 等效电路 §2.4 线性非时变电阻串、并联等的等效简化 §2.5 含独立电源电路的等效变换 § 2.6 含有受控电源电路的简化

1. Functional Elements of an Instrument 2. Active and Passive Transducers 3. Analog and Digital Modes of Operation 4. Null and Deflection Methods 5. Input-Output Configuration of Instruments and Measurement Systems 6. Methods of Correction for Interfering and Modifying Inputs 7. Conclusions