本章内容包括CRT显示器和LCD显示器两部分。 CR(Cathode Ray Tube阴极射线管)显示器 :介绍CRT显示器的分类、CRT显示器的基本工 作原理、显像管的类型、CRT显示器的主要技术 参数

3.1概述 3.1.1插补的基本概念 数控系统根据零件轮廓线型的有限信息,计算出刀具的系列加工点、完成所谓的数据“密化”工作。插补有二层意思:

2.1 概论 2.2 放大电路的组成和工作原理 2.3 放大电路的分析方法 2.4 静态工作点的稳定 2.5 射极输出器 2.6 场效应管放大电路 2.7 多级阻容耦合多级放大电路

《模拟电子技术》课程教学资源（PPT课件讲稿）第六章 放大器反馈原理及稳定化基础 6.3.2 电压串联负反馈 6.3.3 电压并联负反馈 6.4.1 负反馈对放大器传输函数极零点的影响 6.4.2 单极点闭环系统的响应特征

11.1 PLC的结构及工作原理 11.2 PLC的编程元件及指令系统 11.3 PLC梯形图的设计方法 11.4 PLC应用实例

第0节 磁共振的物理基础 第一节 MRI成像系统概述 第二节 主磁体 第三节 梯度磁场系统 第四节 射频系统 一、基本概念 二、发射线圈与发射通道 三、接受线圈与接受通道 四、射频信号接收单元 第五节 计算机系统 第七节 磁共振扫描床 一、结构 二、床面水平纵向移动装置 三、床面水平横向移动装置 四、控制电路 第八节 超导及低温系统 一、超导性与超导体 二、低温技术 三、超导环境的建立与失超保护 第九节 磁场的屏蔽 一、磁场与环境的相互影响 二、主磁体屏蔽 三、射频屏蔽

超精密光学元件是决定高端装备性能的核心元件，在大科学装置、精密仪器等领域中被广泛应用。对光学元件进行高精度检测是保证元件质量的重要途径。光学检测技术因具有非破坏性、高精度而成为光学元件检测的有效技术。首先，对超精密光学元件主要检测技术进行了综述，重点介绍技术原理、研究现状和应用瓶颈；其次，针对光学检测技术中的相位解调问题，以波长移相测量技术为例，结合超精密平面光学元件检测，概述了相位解调算法的原理与实现过程，并对其性能进行综合评估；最后，展望光学元件检测技术的未来发展趋势

概述 载波同步 载波同步系统的性能 位同步（码元同步） 位同步系统的性能 群同步（帧同步）

《模拟电子技术》课程教学资源（PPT课件讲稿）第六章 放大器反馈原理及稳定化基础 6.1.5 判别反馈类型的方法 6.2 负反馈对放大器性能的影响 6.3.1 负反馈放大器的一般分析方法

第8章交流异步测速发电机 8.1概述 8.2交流异步测速发电机结构和工作原理 8.3异步测速发电机的特性和主要技术指标 8.4异步测速发电机的使用 8.5交流伺服测速机组