第一节 电子衍射原理 电子衍射基本公式* 、多晶衍射原理与衍射花样特征、多晶衍射花样的标定、单晶电子衍射成像原理与花样特征、单晶电子衍射花样的标定 第二节 低能电子衍射 单晶表面原子排列与二维点阵、低能电子衍射原理、应用

第一节 基本原理 第二节 傅立叶变换红外光谱仪 第三节 傅立叶变换红外图谱的解析及应用 Fourier transform infrared spectrum (FTIR)

第一节 基本原理 一、有机、无机化合物的电子光谱 1、含、和n电子的吸收谱带 四大跃迁、名词解释、典型吸收带 2、含d和f电子的吸收谱带 3、电荷转移吸收谱带 二、吸收定律 第二节 紫外－可见分光光度计 第三节 紫外-可见吸收光谱法的应用

任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状 态有关。 当外界条件(如温度、压力)以及化学成分、 内应力等发生变化,点阵常数都会随之改变。 这种点阵常数变化是很小的,通常在10-5nm量级。 精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体 含量及分解、晶体热膨胀系数、内应力、晶体 缺陷等诸多问题非常有作用。所以精确测定点 阵常数的工作有时是十分必要的

1、了解磁粉检测、渗透检测和超声波检测的基本原理。 2、初步掌握磁粉检测、渗透检测和超声波检测的操作方法

一、㐅射线衍射方法 粉末多晶法

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

绪论 第一章 光学显微分析 第二章 X-射线衍射分析 第三章 电子显微分析 第四章 综合热分析 第五章 红外光谱分析

第一章Ⅹ射线的性质 第二章X射线衍射 第三章多晶体分析方法 第四章Ⅹ射线衍射应用

一、引言 二、基本原理; 三、PDF卡片 四、PDF卡片索引 五、分析方法 六、物相定量分析