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电子科技大学:《射频集成电路 RF Integrated Circuits》课程教学资源(课件讲稿)第三讲 单级放大器
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1. Why CMOS? 2. CMOS Process Step
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一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
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 SoC设计的基本概念  IEEE P1500协议  SoC的DFT策略的探讨
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 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障
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《半导体工艺原理》课程教学课件(PPT讲稿)第2章 集成电路工艺介绍
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《半导体工艺原理》课程教学课件(PPT讲稿)第2章 集成电路工艺介绍
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《高频电子线路》课程教学资源(应用实例)实例八 新型窄带调频接收机集成电路MC3362347的应用
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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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 理解BIST(Built-in Self-Test)的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构
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