shell 变量的设置、查看和清除 局部变量与作用域 环境变量及其设置 内置命令 declare和 printf 变量测试与赋值 位置变量与变量的间接引用 命令替换的两种方式 整型变量的算术运算和算术扩展 数组变量及其引用方法

从讨论周期函数的 Fourier级数的展开式出发,进而讨论 非周期函数的 Fourier积分公式及其收敛定理,并在此基础上引出 Fourier变换的定义、性质、-些计算公式及某些应用 本章的重点是求函数的ouer变换及 Fourier变换的某些应 用.函数的 Fourier变换也是本章的一个难点,要解决好这个难点, 必须掌握好 Fourier变换的基本性质及一些常用函数(如单位脉冲 函数,单位阶跃函数,正、余弦函数等)的 Fourier变换及其逆变换 的求法从而才能较好地运用 fourier变换进行频谱分析,解某些 微分、积分方程和偏微分方程的定解问题

用增量步进试验方法,研究了珠光体和回火索氏体共析轨钢的循环应力-应变行为。结果表明,在试验选定应变范围内,回火索氏体发生循环软化;珠光体表现为软、硬化同时发生。在同类型组织中,低强材料的循环应变性能优于高强材料,而珠光体优于回火索氏体。定义了珠光体组织的临界应变幅,并对临界应变幅随性能的变化规律进行了研究。同时还探讨了循环应力-应变参数与显微组织参数及应变步进增量的关系

元线性回归分析估计两个变量的关 系 其中一个变量作为响应变量或输出变量 (y)o 另一个变量作为预测变量或解释变量 有时两个变量中哪一个是响应变量(例 如高度和重量)是不好区分的。在这种 情况下,可能会使用相关分析

时域分析方法 变换域分析方法： 连续时间信号与系统 Laplace变换 Fourier变换 离散时间信号与系统 z变换 Fourier变换 一、z变换的定义及收敛域 二、z反变换 三、z变换的基本性质与定理

本章重点： ◼ 理解数字滤波器的基本概念、设计内容及方法 ◼ 掌握脉冲响应不变法设计IIR滤波器 ◼ 掌握双线性变换法设计IIR滤波器 ◼ 了解Butterworth、Chebyshev低通滤波器的特点 ◼ 掌握从模拟滤波器低通原型到各种数字滤波器的频率变换。 ◼ 掌握从数字滤波器到各种数字滤波器的频率变换 学习重点： ◼ 1、如何确定滤波器的设计指标。 ◼ 2、设计IIR LDF两种变换法（模拟频率变换法，数字频率变换法）。 ◼ 3、利用模拟滤波器来设计数字滤波器的两种方法（冲激不变法、双线性变换法）。 ◼ 3.1 IIR滤波器设计（两种方法） ◼ 3.2 模拟滤波器到数滤波器转换 ◼ 3.3 模拟低通到各种数字滤波器的频率变换 ◼ 3.4 数字低通到各种数字滤波器的频率变换

采用低碳钢板K08Al、08Al研究了单向拉伸、平面应变、等双向拉伸、单向拉伸——等双向拉伸及等双向拉伸——单向拉伸5种变形路径中的表面粗糙度Rz、Rm值随变形量的变化。同时,对初始板厚不均匀度fo以及在不同变形路径中板厚不均匀度随变形的发展进行了测定和分析。结果表明:在各变形路径中,随着变形量的增加,表面粗糙度Rz、Rm值呈线性增加,而板厚不均匀度fR值则显著下降

通过热模拟实验、光学金相及透射电镜分析观察，研究了奥氏体化条件、变形温度、变形速率、变形量以及道次间隔时间对曲轴用非调质钢C38N2轧制道次间的静态再结晶体积分数和残余应变率的影响规律.实验结果表明：随着变形温度的升高、变形速率的增大、变形量的增大或道次间间隔时间的增长，静态再结晶的体积分数逐渐升高，道次的残余应变率逐渐降低；原始奥氏体晶粒尺寸增大，静态再结晶体积分数降低，但变化不大；在1250℃以下，随着奥氏体化温度的升高，静态再结晶体积分数降低不明显，但在1250℃以上，奥氏体化温度的升高明显降低了静态再结晶体积分数.通过线性拟合以及最小二乘法，得到静态再结晶体积分数与不同变形工艺参数之间关系的数学模型；对已有残余应变率数学模型进行修正，得到含有应变速率项的残余应变率数学模型，拟合度较好

采用直流电沉积工艺,制备了平均晶粒尺寸为56nm的致密纳米晶铜.室温下进行单向拉伸实验,发现纳米晶铜的强度和韧性均随应变速率的升高而增大,特别是韧性的速率敏感十分显著.应变速率由1.04×10-5s-1升至1.04s-1时,断裂应变由23.2%增至39.4%,同时抗拉强度由309MPa增至451MPa.这一现象可归因于两个方面:首先,纳米晶铜的应变硬化行为随应变速率的升高而增大,从而使其均匀变形阶段的应变增加;其次,高应变速率下纳米晶铜颈缩时发生晶粒转动,这有助于其失稳阶段的应变增加

利用自行开发的连续变断面挤压新工艺设备,以工业纯铝为研究对象,进行了连续变断面挤压实验,研究了挤压制品的组织.结果表明:由于连续变断面挤压制品长度方向上各点的挤压比不同,各点的显微晶粒度也不同,晶粒随挤压比的增大而减小,在截面单一变化的试样中这种现象尤为明显;在同一截面上挤压制品的组织也不均匀,晶粒的尺寸由试样外层到中部逐渐变大,外层组织多为细小晶粒,中部组织多为粗大晶粒;由于热处理工艺的原因,部分组织还会发生二次再结晶,出现晶粒的异常长大现象.实验揭示了变断面挤压制品晶粒尺寸的变化规律