第一章 数制和码制 第二章 逻辑代数基础 第三章 门电路 第四章 组合逻辑电路 第五章 半导体存储电路 第六章 时序逻辑电路 第七章 脉冲波形的产生和整形电路 第八章 数——模和模——数转换

第一章 数制和码制 第二章 逻辑代数基础 第三章 门电路 第四章 组合逻辑电路 第五章 半导体存储电路 第六章 时序逻辑电路 第七章 脉冲波形的产生和整形电路 第八章 数——模和模——数转换

第一章 数字逻辑基础 第三章 组合逻辑电路 第四章 触发器 第五章 时序逻辑电路 第六章 数字系统 第七章 可编程逻辑器件 PLD Programmable Logic Device

第一章 数制与码制 第二章 逻辑代数基础 第四章 组合逻辑电路 第五章 触发器(Flip — Flop) 第六章 时序逻辑电路 第七章 脉冲信号和变化 第八章 D/A和A/D变换 第九章 半导体存储器 第十章 可编程逻辑器件 第十二章 数字系统设计基础

1.由给定的逻辑图写出逻辑关系表达式。 （注意写的方向） 分析步骤（求解过程） 2.用逻辑代数或卡诺图对逻辑表达式进行化简。 （注意表达式的简化形式） 3.列出输入输出真值表并得出结论

第一章 绪论 第二章 逻辑代数基础 第三章 逻辑门电路 第四章 集成触发器 第五章 脉冲信号的产生与整形 第六章 组合逻辑电路 第七章 时序逻辑电路 第八章 数模和模数转换器 第九章 半导体存储器

一、组合逻辑电路某一时刻的输出只取决于此时刻的输入。 二、时序逻辑电路某一时刻的稳定输出不仅取决于当时的输入，还取决于过去的输入(历史状态)。 三、因此记忆元件(Memory Devices)是时序逻辑电路的基本元件

实验一 逻辑门电路测试之一 实验二 逻辑门电路测试之二 实验三 单稳态电路与无稳态电路 实验四 晶体振荡器 实验五 组合逻辑电路的应用 实验六 计数器和脉宽测量 实验七 同步时序系统设计 实验八 单次同步时序系统设计 实验九 程序控制反馈移位寄存器 实验十 m序列 实验十一 数字锁相环 实验十二 模数与数摸转换 实验十三 可同步时序系统设计仿真 实验十四 程序控制反馈移位寄存器仿真

第1章 逻辑代数基础 第3章 组合逻辑电路 第4章 触发器 第5章 时序逻辑电路 第2章 门电路 第6章 脉冲波形的产生和整形 第7章 大规模与超大规模集成电路

实验一：集成逻辑门电路的测试与使用 实验二：组合逻辑电路的设计 实验三：时序逻辑电路的设计 实验四：脉冲信号的产生与变换 实验五：A/D 和 D/A 转换器及其应用 实验六：序列信号发生器的设计（设计性）