用金相显微分析、扫描电镜分析及能谱分析等方法研究了Sr对ZK60镁合金晶粒细化的影响.结果表明:添加少量的Sr对ZK60镁合金有很好的组织细化效果,但其细化效率受Sr加入量和熔体保温时间的影响较大.在给定熔体保温时间的条件下,随着Sr质量分数从0.01%增加到0.1%,晶粒细化效率逐渐提高.在给定Sr加入量的条件下,当熔体保温时间为20~80min时,晶粒细化效率随熔体保温时间的延长而提高;当熔体保温时间超过80min后,晶粒细化效率随熔体保温时间的延长而降低

南阳师范学院：《高等数学》课程教学资源（试卷习题）概率统计——二维随机变量及其分布

§2-1 测量值的准确度和精密度 准确度和精密度 系统误差和偶然误差 误差传递 提高分析结果准确度的方法 §2-2 有效数字及其运算规则 §2-3 有限量实验数据的统计处理

南京大学：《数字图像处理》课程教学资源（课件讲义）11 图像特征分析

一、平面曲线的弧长 平面曲线弧长的概念设A、B是曲线弧上的两当个端点,在弧上插入分点并依次连接相邻分点得一内接折线,当分点的数目无限增加且每个小弧段都缩向一点时

第一节 核磁共振波谱法的原理 第二节 核磁共振仪 第三节 化学位移 第四节 偶合常数 第五节 核磁共振氢谱的解析

一、曲面的面积 二、平面薄板的重心 三、平面薄板的转动惯量 四、典型例题分析

一次序统计量 设(X,X2…X)是从总体X中抽取的一个样本, 记(x,x2x)为样本的一个观测值,将观测值的各 个分量按由小到大的递增序列重新排列为 x(1)≤x2)≤…≤Xn 当(x,X2,,X)取值为(x,x2,xn)时,定义Xk取 值为x(k=1,2,n),由此得到的(Xxx(2),Xn)称为 样本(X,X2X)的次序统计量

一次序统计量 设(X,X2…X)是从总体X中抽取的一个样本, 记(x,x2x)为样本的一个观测值,将观测值的各 个分量按由小到大的递增序列重新排列为 x(1)≤x2)≤…≤Xn 当(x,X2,,X)取值为(x,x2,xn)时,定义Xk取 值为x(k=1,2,n),由此得到的(Xxx(2),Xn)称为 样本(X,X2X)的次序统计量

一、和、差、积、商的求导法则 二、例题分析 三、小结思考题