3.1.1 MOS晶体管阈值电压分析 3.1.2 MOS晶体管电流方程 3.2.1 MOS晶体管的亚阈值电流 3.2.2 MOS晶体管的瞬态特性 3.2.3 MOS器件模型

 了解什么是专用可测性技术（ad-hoc technique）  了解TM (Testability Measure)  掌握SCOAP可测性分析方法  理解一般的ad-hoc可测性方法  了解什么是C可测性

第一章 引言 第二章 片上电感的物理模型与特性分析 第三章 片上电感的优化设计 第四章 测试与分析 第五章 结论

复旦大学：《集成电路工程》教学资源（硕士士学位论文）差分结构数字控制晶体振荡器设计

1掌握同步时序电路的一般分析方法 2掌握同步计数器的一般分析方法 3会用反馈归零法、反馈置数法和级联法将集成芯片构成任意进制计数器 4根据功能表会用大、中规模集成芯片构成给定功能的电路  第1、2学时： 时序逻辑电路的分析方法  第3、4学时： 时序逻辑电路的设计方法  第5、6学时： 同步计数器  第7、8学时： 集成同步计数器及其应用  第9、10学时：数据寄存器和移位寄存器

微电子从40年代末的第一只晶体管(Ge合金管 )问世,50年代中期出现了硅平面工艺,此工艺 不仅成为硅晶体管的基本制造工艺,也使得将多 个分立晶体管制造在同在一硅片上的集成电路成 为可能,随着制造工艺水平的不断成熟,使微电 子从单只晶体管发展到今天的ULSI 回顾发展历史,微电子技术的发展不外乎包括 两个方面:制造工艺和电路设计,而这两个又是 相互相成,互相促进,共同发展

第一章半导体产业介绍 一、概述 微电子从40年代末的第一只晶体管(Ge合金管 )问世,50年代中期出现了硅平面工艺,此工艺 不仅成为硅晶体管的基本制造工艺,也使得将多 个分立晶体管制造在同在一硅片上的集成电路成 为可能,随着制造工艺水平的不断成熟,使微电 子从单只晶体管发展到今天的ULSI 回顾发展历史,微电子技术的发展不外乎包括 两个方面:制造工艺和电路设计,而这两个又是 相互相成,互相促进,共同发展

《电路分析基础》教学大纲 《电工原理》教学大纲 《电路分析基础》教学大纲 《电工技术》教学大纲 《电子技术》教学大纲 《电路与电子技术》教学大纲 《电工基础》教学大纲 《自动化检测与仪表》教学大纲 《微机原理与汇编语言》教学大纲 《单片机原理及接口》教学大纲 《自动控制原理》教学大纲 《离散控制系统》教学大纲 《现代控制理论》教学大纲 《微机原理及应用》教学大纲 《软件工程》教学大纲 《信号与系统》教学大纲 《计算方法》教学大纲 《工程力学》教学大纲 《统计力学》教学大纲 《半导体物理》教学大纲 《固体物理》教学大纲 《量子力学》教学大纲 《半导体物理实验》教学大纲 《现代控制理论》教学大纲 《单片机原理及接口》教学大纲 《电机与拖动基础》教学大纲 《计算机控制技术》教学大纲 《自动控制专业英语》教学大纲 《自动控制系统》教学大纲 《系统仿真技术》教学大纲 《集散控制系统》教学大纲 《电机学》教学大纲 《电力工程》教学大纲 《电力电子技术》教学大纲 《电气测试基础》教学大纲 《信号与系统》教学大纲 《自动控制专业英语》教学大纲 《集成电路工艺》教学大纲 《集成电路分析与设计》教学大纲 《集成电路实验》教学大纲 《超大规模集成电路 CAD》教学大纲 《集成电路课程设计》教学大纲 《电气控制设备》教学大纲 《电力系统分析》教学大纲 《电气测试技术》教学大纲 《半导体器件》教学大纲

12.1 TTL集成门电路 12.2 其它类型的TTL门电路 12.3 组合逻辑电路的分析 12.4 组合逻辑电路的设计 12.5 集成组合逻辑电路

13.6 TTL集成门电路 13.7 其它类型的TTL门电路 13.8 组合逻辑电路的分析 13.9 组合逻辑电路的设计 13.10 集成组合逻辑电路