第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

通过Gleeble热模拟实验机模拟了X100管线钢的粗晶热影响区（CGHAZ）及再热临界粗晶热影响区（ICCGHAZ）微观组织。采用电化学测试、浸泡实验及表面分析技术研究了交流干扰下X100管线钢母材、CGHAZ及ICCGHAZ在库尔勒土壤溶液中的腐蚀行为。结果表明：交流干扰下X100管线钢母材、CGHAZ及ICCGHAZ都表现为活性溶解，平均腐蚀速率随交流电流密度的增大而增加。交流干扰造成的极化电位振荡幅值及微观组织对X100管线钢母材、CGHAZ及ICCGHAZ的平均腐蚀速率和腐蚀形貌有着重要影响。在5 mA·cm?2交流电流密度干扰下，母材的腐蚀电位最负、平均腐蚀速率最大，ICCGHAZ的腐蚀电位最正、平均腐蚀速率最小，CGHAZ的腐蚀电位及平均腐蚀速率都居中；在20 mA·cm?2及50 mA·cm?2交流电流密度干扰下，ICCGHAZ腐蚀电位最负、平均腐蚀速率最大，母材的腐蚀电位最正、平均腐蚀速率最小，CGHAZ的腐蚀电位及平均腐蚀速率都仍居中。在20 mA·cm?2交流电流密度交流干扰下，X100管线钢发生局部腐蚀，CGHAZ、ICCGHAZ发生明显的晶界腐蚀，GCHAZ晶界腐蚀形貌呈缝隙状、ICCGHAZ晶界腐蚀形貌为连续孔洞

◆ 12.1 软件测试基础 ◆ 12.2 软件测试方法与技术 ◆ 12.3 软件测试过程 ◆ 12.4 面向对象的测试方法 ◆ 12.5 程序的静态分析方法 ◆ 12.6 软件调试方法 ◆ 12.7 软件测试工具 ◆ 12.8 软件的可靠性

光学显微镜的发明为人类认识微观世界提供了 重要的工具。随着科学技术的发展,光学显微 镜因其有限的分辨本领而难以满足许多微观分 析的需求。上世纪30年代后,电子显微镜的发 明将分辨本领提高到纳米量级,同时也将显微 镜的功能由单一的形貌观察扩展到集形貌观察 、晶体结构、成分分析等于一体。人类认识微 观世界的能力从此有了长足的发展

3.1 信号的时域分析 3.1.1 信号的时域波形分析 3.1.2 信号的幅值域分析 3.2 信号的频域分析 3.3 模拟信号的调理 3.3.1 信号调理的目的 3.3.2 信号的放大 3.3.3 信号的调制与解调 3.3.4 信号的滤波

一、引言 二、基本原理; 三、PDF卡片 四、PDF卡片索引 五、分析方法 六、物相定量分析

透射电子显微镜成像时,电子束是透过样 品成像。由于电子束的穿透能力比较低, 用于透射电子显微镜分析的样品必须很薄 根据样品的原子序数大小不同,一般在 50~500nm之间。制备透射电子显微镜分析 样品的方法很多,这里介绍几种常用的制 样方法

1．数据域测量的基本概念； 2．数据域测量的特点以及基本方法

>>4.1 示波器的使用>>4.2 函数发生器、晶体管毫伏表的使用>>4.3 直流稳压电源、万用表的使用 >>4.4 叠加定理的验证>>4.5 一阶电路时域响应的测量>>4.6 串联RLC电路时域响应的测试 >>4.7 正弦稳态时R、L、C电压电流相位关系的测试>>4.8 RC低通滤波器的设计与测试 >>4.9 二阶RC高通滤波器的设计与测试>>4.10 RLC串联谐振电路>>4.11 RC带通滤波器的设计与测试 一、实验目的

东南大学：分析测试中心（教学大纲）材料分析技术课程实验（课程实验类）