苏州大学：电子信息学院《模拟集成电路课程设计》课程教学大纲

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——研究意义（王忆文）

--- Single-transistor amplifiers --- Source followers --- Cascode

电子科技大学：《模拟集成电路分析与设计 Analysis and Design of Analog Integrated Circuit》课程教学资源（教学大纲，负责人：罗萍）

全国大学生电子设计竞赛（培训资料）运算放大器基本应用电路（双电源应用图集）