第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

1. 杂质电阻 2. 热导率 3. 热电势 4. Hall系数和磁阻

一、转移特性曲线 二、输出特性曲线 1. 可变电阻区 2.恒流区 3. 截止区 4.击穿区

一、 欧姆定律 二、 焦耳定律 三、 电阻的计算 四、 电容 五、 电感 六、 基尔霍夫定律和麦克斯韦方程

1、图：是结点和支路的集合 支路：抽象的线段（直线或曲线） 结点：支路的交点 电路的图：每一个元件用线段表示，US1和R1两支路，所以5个结点（b）

可分为线性电阻电路、动态元件电路、电路方程的矩阵形式等。其 核心内容有基尔霍夫电流定律、电压定律、代维宁定理、替代定理、 结点电压法、一阶电路、二阶电路、相量法分析正弦稳态电路、互 感电压的确定、S域分析法、网络函数、电路方程的矩阵形式、Z参 数的确定等

1． 正弦交流电路电阻元件的串﹑并联关系与求解。 2． 支路电流法的关系与求解。 3． 回路电流法的关系与求解。 4． 结点电压法的关系与求解。 5． 戴维南定理的关系与求解

1. 电压、电流的参考方向 2. 电阻元件和电源元件的特性 3. 基尔霍夫定律

2.1 正弦交流电的基本概念 2.2 交流电的有效值 2.3 正弦量的相量表示法 2.4 正弦交流电路中的电阻元件 2.5 正弦交流电路中的电感元件 2.6 正弦交流电路中的电容元件 2.7 相量形式的基尔霍夫定律 2.8 RLC串联电路的相量分析 2.9 复阻抗的串联与并联 2.10 复导纳分析并联电路 2.11 功率因数的提高 2.12 串联谐振电路

一、支路电流法 二、(网孔电流法) 三、回路电流法 四、结点电压法