第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

实验一 激光干涉精密测量实验. 1 实验二 激光衍射计量技术光学及傅里叶变换和图像处理实验. 4 实验三 激光共焦三维测量实验. 10 实验四 巴俾特原理及细丝直径测量实验. 13

实验一 用立式光学计测量塞规 实验二 用内径千分表或卧式长仪测量内径 实验三 表面粗糙度测量 实验四 用合象水平仪或框式水平仪

折射率是透明材料的一个重要光学常数。测定透明材料折射率的方法很多，全反射法是其 中之一。全反射法具有测量方便快捷，对环境要求不高，不需要单色光源等特点。然而，因全 反射法属于比较测量，故其测量准确度不高（大约Δn=3×104），被测材料的折射率的大小受到 限制（约为 1.3～1.7），且对固体材料还需制成试件。尽管如此，在一些精度要求不高的测量中， 全反射法仍被广泛使用

1 半导体激光器的参数测量与调制特性 2 半导体激光泵浦固体激光器及其倍频和调Q 3 He-Ne 激光器的装调及纵模测量 4 灯泵 YAG 激光器综合实验 5 光学传递函数测量和透镜像质评价实验 6 阿贝成像原理和空间滤波 7 用光学方法实现图像相减 8 彩色编码摄影实验 9 光源与光纤耦合实验 10 光纤参数测量实验 11 光无源器件测试 12 单模光纤的色散和损耗特性测量实验 13 光纤视频综合传输系统 14 光纤网络实验 15 掺铒光纤放大器实验 16 光纤传感实验 17 用户线信令与无绳电话实验 18 误码测试 19 光纤通信原理实验 20 液晶的电光效应实验

3.1水平角和竖直角测量原理 3.2DJ6光学经纬仪 3.3经纬仪的使用 3.4水平角测量 3.5竖直角测量 3.6经纬仪的检验和校正 3.7角度测量误差与注意事项

角度测量是测量工作的基本内容之一，它包括水平 角测量和垂直角测量。水平角测量用于求算点的平面坐 标，垂直角测量用于测定点的高程。角度测量中最常用 的仪器就是光学经纬仪

竖直角——在同一铅垂面内,瞄准目标的倾斜视 线与水平视线的夹角(也叫垂直角)。 =0~±90,仰角为正,俯角为负

一、电磁辐射波谱和吸收光谱法 二、红外线气体分析器的测量原理 三、红外线气体分析器的类型和特点 四、光学系统的构成部件 五、采用气动检测器的不分光型红外分析器 六、采用固体检测器的固定分光型红外分析器 七、测量误差分析

实验项目 1：水准仪的认识和使用 实验项目 2：光学经纬仪的认识和使用 实验项目 3：全站仪的认识和使用 实验项目 4：数字地形图的绘制 实验项目 5：大比例尺地形图测绘 实验项目 6：控制测量 实验项目 7：施工测量