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第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

实验一 材料的热分析实验——差热热重分析 实验二 荧光光谱分析实验——标准曲线法定量分析药片中的叶酸含量 实验三 气相色谱定性和色谱柱效的测定 实验四 晶体管特性分析实验 实验五 红外吸收光谱分析 实验六 材料的吸收光谱实验 实验七 光纤传感技术实验——马赫-曾德干涉测量 实验八 电阻应变测量技术 实验九 光学变形测量技术

实验一 激光干涉精密测量实验. 1 实验二 激光衍射计量技术光学及傅里叶变换和图像处理实验. 4 实验三 激光共焦三维测量实验. 10 实验四 巴俾特原理及细丝直径测量实验. 13

实验一 用立式光学计测量塞规 实验二 用内径千分表或卧式长仪测量内径 实验三 表面粗糙度测量 实验四 用合象水平仪或框式水平仪

折射率是透明材料的一个重要光学常数。测定透明材料折射率的方法很多，全反射法是其 中之一。全反射法具有测量方便快捷，对环境要求不高，不需要单色光源等特点。然而，因全 反射法属于比较测量，故其测量准确度不高（大约Δn=3×104），被测材料的折射率的大小受到 限制（约为 1.3～1.7），且对固体材料还需制成试件。尽管如此，在一些精度要求不高的测量中， 全反射法仍被广泛使用

3.1水平角和竖直角测量原理 3.2DJ6光学经纬仪 3.3经纬仪的使用 3.4水平角测量 3.5竖直角测量 3.6经纬仪的检验和校正 3.7角度测量误差与注意事项

1 半导体激光器的参数测量与调制特性 2 半导体激光泵浦固体激光器及其倍频和调Q 3 He-Ne 激光器的装调及纵模测量 4 灯泵 YAG 激光器综合实验 5 光学传递函数测量和透镜像质评价实验 6 阿贝成像原理和空间滤波 7 用光学方法实现图像相减 8 彩色编码摄影实验 9 光源与光纤耦合实验 10 光纤参数测量实验 11 光无源器件测试 12 单模光纤的色散和损耗特性测量实验 13 光纤视频综合传输系统 14 光纤网络实验 15 掺铒光纤放大器实验 16 光纤传感实验 17 用户线信令与无绳电话实验 18 误码测试 19 光纤通信原理实验 20 液晶的电光效应实验

角度测量是测量工作的基本内容之一，它包括水平 角测量和垂直角测量。水平角测量用于求算点的平面坐 标，垂直角测量用于测定点的高程。角度测量中最常用 的仪器就是光学经纬仪

竖直角——在同一铅垂面内,瞄准目标的倾斜视 线与水平视线的夹角(也叫垂直角)。 =0~±90,仰角为正,俯角为负