第一节 质量保证的意义和内容 第二节 监测实验室基础 第三节 监测数据的统计分析与结果表述 第四节 实验室质量保证 第五节 标准分析方法和环境标准物质 第六节 质量控制图

第一节 半导体器件 § 2.1.1 半导体的基本知识 § 2.1.2 PN 结及半导体二极管 § 2.1.3 半导体三极管 第二节 基本放大电路 §2.2.1 放大电路的组成 §2.2.2 放大电路的分析方法 §2.2.3 静态工作点的稳定 §2.2.4 放大器的主要性能指标 §2.2.5 多级阻容耦合放大电路

第二章基本放大电路 2.1概论 2.2放大电路的组成和工作原理 2.3放大电路的分析方法 2.4静态工作点的稳定 2.5射极输出器 2.6场效应管放大电路 2.7阻容耦合多级放大电路 2.8差动放大电路

本章重点内容 一、关系的数学定义和性质 二、关系模式的完整性约束条件 三、关系代数 四、关系的规范化原则,范式的基本概念和分解方法

一、概述 二、X光电子能谱 三、俄歇电子能谱 四、扫描隧道显微镜(STM) 五、与原子力显微镜(AFM)

2.1 概论 2.2 放大电路的组成和工作原理 2.3 放大电路的分析方法 2.4 静态工作点的稳定 2.5 射极输出器 2.6 场效应管放大电路 2.7 多级阻容耦合多级放大电路

4.1 BJT 4.3 放大电路的分析方法 4.4 放大电路静态工作点的稳定问题 4.5 共集电极放大电路和共基极放大电路 4.2 基本共射极放大电路 4.6 组合放大电路 *4.7 放大电路的频率响应 *4.8 单级放大电路的瞬态响应

3.1 半导体的基本知识 3.2 PN结的形成及特性 3.3 二极管 3.4 二极管的基本电路及其分析方法 3.5 特殊二极管

4－1 粉末照相法 4－2 X射线衍射仪 4－3 衍射花样标定（指数化） 4－4 点阵常数的精确测定

2.1放大模式下晶体三极管的工作原理 2.2晶体三极管的其它工作模式 2.3埃伯尔斯—莫尔模型 2.4晶体三极管伏安特性曲线 2.5晶体三极管小信号电路模型 2.6晶体三极管电路分析方法 2.7晶体三极管的应用原理